[发明专利]反射式相位正交单频激光干涉测量装置及测量方法有效
申请号: | 201910777593.5 | 申请日: | 2019-08-22 |
公开(公告)号: | CN110487173B | 公开(公告)日: | 2021-04-30 |
发明(设计)人: | 乐燕芬;金施嘉珞;金涛 | 申请(专利权)人: | 上海理工大学 |
主分类号: | G01B9/02 | 分类号: | G01B9/02;G01N21/45 |
代理公司: | 上海申汇专利代理有限公司 31001 | 代理人: | 徐颖 |
地址: | 200093 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: |
本发明涉及一种反射式相位正交单频激光干涉测量装置及测量方法,由单频激光源提供线45°偏振光,经起偏器后入射偏振分光棱镜并均匀分束,分束后的P光和S光空间位置平行出射,经1/4波片后分别投射至测量平面镜和参考平面镜返回,再次经过1/4波片后经偏振分光镜合光出射。出射合束光经半透半反镜均匀分束,其透射光经检偏器后由光电探测器接收产生干涉信号V |
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搜索关键词: | 反射 相位 正交 激光 干涉 测量 装置 测量方法 | ||
【主权项】:
1.一种反射式相位正交单频激光干涉测量装置,其特征在于,包括单频激光源,起偏器,偏振分光棱镜,第一1/4波片,参考反射镜,测量反射镜,半透半反分光棱镜,第一检偏器,第一光电探测器,第二1/4波片,第二检偏器,第二光电探测器和干涉信号处理单元;/n偏振分光棱镜由两块结构大小相同的直角棱镜直角面粘合而成,两个直角棱镜的斜边分别为面A和面B,偏振分光棱镜的第三个面为面C,在粘合面D镀有一层偏振分光膜;/n单频激光源发出的线45°偏振光,经起偏器后从偏振分光棱镜的面A入射,其中P分量透过偏振分光面D后经面B反射后从面C出射,其中S分量先后经偏振分光面D和面A反射后从C面出射,从面C出射的P光与S光空间平行;/n经偏振分光棱镜分束后的P光和S光,经过方位角为45°的第一1/4波片后成为两束正交的圆偏振光,分别经测量反射镜和参考反射镜反射后,原路返回再次经过第一1/4波片偏振态改变90°,测量光P光变为S光,而参考光S光变为P光,从偏振分光棱镜的C面入射后经偏振分光面D合束,从偏振分光棱镜的B面出射;/n合束后的出射光垂直入射并通过半透半反分光棱镜,透射光经第一检偏器和第一光电探测器获得干涉信号VI,反射光经过方位角为0°的第二1/4波片后经第二检偏器和第二光电探测器成为干涉信号VQ,两个正交的干涉信号VI和VQ送干涉信号处理单元。/n
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