[发明专利]基于马赫曾德干涉仪的光学器件衰减特性测试装置及方法

摘要

基于马赫曾德干涉仪的光学器件衰减特性测试装置及方法，装置包括第一光源、1/2波片、布儒斯特窗、光分束器、反射镜、探测器、第二光源、格兰棱镜以及处理系统；通过在马赫曾德干涉仪的一条臂上插入待测试的光学器件，测量激光辐照的相位变化，得到光学器件的折射率；在待测光学器件上加红绿蓝激光作为测试光，通过探测器探测待测光学器件的输出光功率，得到光学器件幅值的变化，利用相位变化和幅值变化可以得到精确的衰减特性。

主权项

1.基于马赫曾德干涉仪的光学器件衰减特性测试装置，其特征在于：包括第一光源、1/2波片、布儒斯特窗、光分束器、反射镜、探测器、第二光源、格兰棱镜以及处理系统；其中：马赫曾德干涉仪部分：第一光源出射端顺序放置1/2波片和布儒斯特窗，布儒斯特窗后放置第一光分束器，光束经第一光分束器后被分成两路，一路沿原方向传输，另一路垂直于原方向；构成马赫曾德干涉仪两臂：一路中加入第一反射镜，与光束成45度角使光束传播方向发生90度改变，该路为参考臂；另一路中以同样的方法加入第二反射镜，反射后的光束依次经过第一格兰棱镜和第二格兰棱镜；在两路光交汇处放置第二光合束器，合束后的光被第一探测器接收，后进入处理系统；测试光路部分：第二光源出射光经过第三光分束器，沿原方向传输的光被第二探测器接收；垂直于原方向传输的光分别经过上述第一格兰棱镜，随后经过第二格兰棱镜时光束传输方向发生90度变化，被第三探测器接收；第二、第三探测器均接入处理系统。