[发明专利]电容测试系统在审
| 申请号： | 201910788552.6 | 申请日： | 2019-08-26 |
| 公开（公告）号： | CN112505468A | 公开（公告）日： | 2021-03-16 |
| 发明（设计）人： | 陈文钟;陈健忠;张仕勋;庄圣敬;王耀南 | 申请（专利权）人： | 致茂电子（苏州）有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/01 | 分类号： | G01R31/01;G01R31/00;G01R1/02;G01R1/04;B07C5/344;B07C5/02;B07C5/36 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 郭化雨 |
| 地址： | 215129 江苏省苏州市*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本申请提供一种电容测试系统，包含多个排架、第一输送带、第二输送带以及路径切换件。每一个排架包含多个夹持部，每一个夹持部用以夹持待测电容。第一输送带可拆卸地连接至少一个排架，并输送至少一个排架于第一输送路径。第二输送带可拆卸地连接至少一个排架，用以输送至少一个排架于第二输送路径。路径切换件具有切换位置，当切换位置位于第一输送路径的延伸方向上时，切换位置用以容置第一输送带输送的至少一个排架，当切换位置旋转至第二输送路径的延伸方向上时，路径切换件将至少一个排架输送至第二输送路径。 | ||
| 搜索关键词： | 电容 测试 系统 | ||
【主权项】：
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