[发明专利]基于多项式拟合的高光谱辐射定标方法及系统在审
申请号: | 201910789025.7 | 申请日: | 2019-08-26 |
公开(公告)号: | CN110487406A | 公开(公告)日: | 2019-11-22 |
发明(设计)人: | 徐武健;施蕾蕾;刘龙;宫华泽;陈祺;高晨 | 申请(专利权)人: | 北京麦飞科技有限公司 |
主分类号: | G01J3/42 | 分类号: | G01J3/42;G01J3/28;G01N21/17;G01N21/55 |
代理公司: | 11603 北京晟睿智杰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) | 代理人: | 于淼<国际申请>=<国际公布>=<进入国 |
地址: | 100000 北京市朝阳区阜*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本申请公开了一种基于多项式拟合的高光谱辐射定标方法及系统,涉及高光谱辐射定标技术领域,方法包括:搭建模拟数据采集平台,选取模拟数据采集平台测得的训练样本,通过多项式拟合的方式建立第一光谱数据与第二光谱数据之间的关系,根据第一光谱数据与第二光谱数据之间的关系得到体现下行辐射光谱数据与参考板反射光谱数据对应关系的系数矩阵A;在实际测量被测物的反射率时,通过光敏元件和高光谱仪测量得到的数据,结合系数矩阵A和被测物光谱反射率计算公式,即可计算得到被测物光谱反射率。实测被测物反射率过程中无需携带参考板并对参考板进行测量,既有利于简化近地或低空高光谱遥感测量流程,又有利于降低测量误差,提升测量精度。 | ||
搜索关键词: | 光谱数据 被测物 参考板 测量 多项式拟合 高光谱辐射 光谱反射率 采集平台 模拟数据 系数矩阵 反射率 定标 反射光谱数据 高光谱遥感 测量流程 辐射光谱 高光谱仪 光敏元件 计算公式 实际测量 训练样本 实测 下行 携带 申请 | ||
【主权项】:
1.一种基于多项式拟合的高光谱辐射定标方法,其特征在于,包括:/n搭建模拟数据采集平台,所述模拟数据采集平台包括至少3个不同波段的光敏元件、高光谱仪和参考板,所述参考板平行于地面放置,沿垂直于地面的方向,所述高光谱仪位于所述光敏元件和所述参考板之间,所述光敏元件位于所述高光谱仪远离地面的一侧;/n将所述至少3个不同波段的光敏元件的探测方向调整为朝向天空的方向,并将高光谱仪的探测方向调整为朝向所述参考板;/n在同一测量时间段,利用光敏元件对下行辐射的光谱数据进行测量,得到多个第一光谱数据;同时利用高光谱仪对参考板的反射光谱数据进行测量,得到多个第二光谱数据;/n选取一定量的所述第一光谱数据和所述第二光谱数据作为训练样本,通过多项式拟合的方式建立第一光谱数据与第二光谱数据之间的关系,根据第一光谱数据与第二光谱数据之间的关系得到体现下行辐射光谱数据与参考板反射光谱数据对应关系的系数矩阵A;/n当测量被测物光谱反射率数据时:/n搭建实测数据采集平台,所述实测数据采集平台包括至少3个不同波段的光敏元件、高光谱仪和被测物,所述被测物平行于地面放置,沿垂直于地面的方向,所述高光谱仪位于所述光敏元件和所述被测物之间,所述光敏元件位于所述高光谱仪远离地面的一侧;/n在同一测量时间段,利用所述至少3个不同波段的光敏元件对当前测量条件下的下行辐射对应的光谱数据进行测量,得到多个第三光谱数据;同时利用高光谱仪对当前测量条件下被测物的反射光谱数据进行测量,得到当前测量条件下被测物的反射光谱数据;/n将测量得到的所述第三光谱数据代入所述系数矩阵中,计算得到当前测量条件下的参考板反射光谱数据;/n对所述被测物的反射光谱数据与所述参考板反射光谱数据进行比值运算,计算得到被测物光谱反射率Ref1024, 其中, 为高光谱仪测得的被测物反射光谱DN值, 为根据光敏元件测量的光谱数据模拟得出的参考板反射光谱的DN值,Ref0为获取训练样本时采用的参考板的反射率,Ref0为固定值。/n
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京麦飞科技有限公司,未经北京麦飞科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201910789025.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。