[发明专利]异方性导电膜绑定后导电粒子数目的快速检测方法及装置在审
| 申请号： | 201910790128.5 | 申请日： | 2019-08-26 |
| 公开（公告）号： | CN110660043A | 公开（公告）日： | 2020-01-07 |
| 发明（设计）人： | 邓向阳;刘江舟;王大瑞 | 申请（专利权）人： | 苏州感知线智能科技有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T5/00;G06T5/20;G06T7/194 |
| 代理公司： | 32297 南京艾普利德知识产权代理事务所(特殊普通合伙) | 代理人： | 陆明耀 |
| 地址： | 215163 江苏省苏州市*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明提供一种异方性导电膜绑定后导电粒子数目的快速检测方法及装置，包括如下步骤：S1，取像步骤；S2，去噪步骤；S3，图像校正步骤；S4，图像预处理步骤；S5，重叠图像分割步骤；S6，标识导出步骤。本发明的有益效果主要体现在：替代传统的人工进行抽检，可以以很快的速度实现对所有产品的全检，得到导电粒子的数目和位置，增加检测的效率，提升产品的合格率。 | ||
| 搜索关键词： | 导电粒子 图像校正步骤 异方性导电膜 图像预处理 快速检测 速度实现 重叠图像 传统的 绑定 导出 取像 去噪 全检 合格率 分割 检测 替代 | ||
【主权项】：
1.一种异方性导电膜绑定后导电粒子数目的快速检测方法，其特征在于，包括如下步骤：/nS1，取像步骤，采用DALSA相机和LEICA微分干涉成像显微镜对屏幕边框取像，使导电粒子在物体表面起伏而产生明显的浮雕效果，得到异方性导电膜绑定后导电粒子的图像；/nS2，去噪步骤，对采集到的图像进行去噪处理；/nS3，图像校正步骤；确定每条检测区域的行列坐标，通过图像灰度值不同，提取出具有导电粒子的ROI区域；/nS4，图像预处理步骤，去掉检测区域背景的低频部分，突出高频导电粒子部分；/nS5，重叠图像分割步骤，通过导电粒子间距离拉大，区分重叠的导电粒子；/nS6，标识导出步骤，统计导电粒子数目、位置信息，并标识展示。/n
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