[发明专利]一种多维一体化光谱检测池装置在审
申请号: | 201910792011.0 | 申请日: | 2019-08-26 |
公开(公告)号: | CN110487723A | 公开(公告)日: | 2019-11-22 |
发明(设计)人: | 刘宏权 | 申请(专利权)人: | 长春美泰仪器有限公司 |
主分类号: | G01N21/01 | 分类号: | G01N21/01;G01N21/27;G01N21/31;G01N21/47;G01N21/64 |
代理公司: | 11756 北京中和立达知识产权代理事务所(普通合伙) | 代理人: | 张攀<国际申请>=<国际公布>=<进入国 |
地址: | 130062 吉林*** | 国省代码: | 吉林;22 |
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摘要: | 本发明公开一种多维一体化光谱检测池,包括反射光谱单元、吸收光谱单元、荧光光谱单元、180°后向共振光散射单元和和微处理器系统。所述光谱检测池内壁设置有反射镜层,可以对光源进行反射。光谱检测池主体采用黑色塑料材质或发黑处理后的铝合金材质,以去除杂散光。所述反射光谱单元包括光源、样品器、反射镜层、光电传感器和微处理器系统。可分别采用反射光谱法、吸收光谱法、荧光光谱法、后向共振光散射光谱法对样品进行检测。还可以采用多种检测方法组合,以实现对样品进行多方法、多参数精准检测,检测器将数据传入微处理器处理,检测结果在液晶显示模块上显示出来。 | ||
搜索关键词: | 光谱检测 微处理器系统 反射光谱 反射镜层 共振光 后向 光源 检测 检测器 液晶显示模块 反射光谱法 光电传感器 铝合金材质 散射光谱法 吸收光谱法 荧光光谱法 微处理器 发黑处理 黑色塑料 检测结果 散射单元 吸收光谱 荧光光谱 池主体 多参数 样品器 杂散光 多维 内壁 反射 去除 一体化 | ||
【主权项】:
1.一种多维一体化光谱检测池装置,其特征在于包括:光谱检测池,样品器;还包括吸收光谱单元、反射光谱单元、荧光光谱单元、180°后向共振光散射单元和和微处理器系统;/n所述光谱检测池设置为圆柱体或方体结构,与之对应的样品器采用圆瓶或方形玻璃皿;/n光谱检测池内能放置样品器;光谱检测池包括四周外部对应面;以及光谱检测池底面;光谱检测池主体采用黑色塑料材质或发黑处理后的铝合金材质,以去除杂散光;/n所述光谱检测池内壁设置有反射镜层,用于对光源进行反射;/n所述吸收光谱单元包括位于第一剖面侧光源b4、位于第二剖面侧光电传感器b2,样品器3插入光谱检测池中,光源b4与光电传感器b2位于光谱检测池下部同一轴线上;在做样品检测时,在微处理器系统作用下开启光源b4,光源b4出射的光透过样品后到达光电传感器b2,光电传感器b2将光信号转换成电信号后传入微处理器系统处理,检测结果在液晶显示模块上显示出来;/n所述反射光谱单元包括位于第一剖面侧光源b 1、光电传感器b2,反射镜层2;样品器3插入光谱检测池中,光源b 1透过样品在反射镜层2多次反射后到达光电传感器b2;光电传感器b2将光信号转换成电信号后传入微处理器系统处理,检测结果在液晶显示模块上显示出来;光源b 1位于光电传感器b2同侧的光谱检测池上部;由于光源采用反射方式,增加了光源光程,因此能对样品进行微量检测,同时也提高了样品检测的灵敏度;/n所述荧光光谱单元包括位于剖面底部荧光光源b3、第二剖面侧光电传感器b6和附在光电传感器b6前面的滤光片b5;荧光光源b3射入的角度与荧光光电传感器b6接收的角度为90°;样品器3插入光谱检测池中,光源b3透过样品激发产生另一波长新光源b33,通过滤光片b5后进入光电传感器b6,滤光片b5只允许波长是新光源b33的光通过;光电传感器b6将光信号转换成电信号后传入微处理器系统处理,检测结果在液晶显示模块上显示出来;/n所述180°后向共振光散射单元包括光源C1、反射镜层2、光电传感器C2和微处理器系统;所述光源C1位于第三侧边的底部,且光源C1的出射方向为倾斜向上方;光电传感器C2的受光面的方向与C1光源出射方向平行,且角度相差180度。/n
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