[发明专利]一种基于多应力耦合下电子设备可靠性评估方法在审
| 申请号： | 201910793525.8 | 申请日： | 2019-08-27 |
| 公开（公告）号： | CN110705139A | 公开（公告）日： | 2020-01-17 |
| 发明（设计）人： | 苏亚慧;秦盼;王峙卫;万国士;赵磊 | 申请（专利权）人： | 华东光电集成器件研究所 |
| 主分类号： | G06F30/23 | 分类号： | G06F30/23;G06F119/14 |
| 代理公司： | 34113 安徽省蚌埠博源专利商标事务所 | 代理人： | 陈俊 |
| 地址： | 233030 安徽省*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明公开一种基于多应力耦合下电子设备可靠性评估方法，包括以下步骤：S1、确定电‑热‑力场耦合下电子设备的失效模式与失效机理；S2、根据步骤S1确定的电子设备失效模式与失效机理，建立多应力耦合下电子设备可靠性物理模型；S3、根据可靠性物理模型，对电子设备进行可靠性仿真分析；S4、根据步骤S3确定的可靠性薄弱环节，对电子设备的可靠性指标进行评估；本方法并不依托可靠性寿命数据，而是从电子设备的工艺参数信息、结构材料信息、工作和使用环境应力情况出发进行分析，可有效避免寿命数据不足的难点，减少成本；可相对准确地找出电子设备的可靠性薄弱环节，进而得到与实际情况更为符合的分析结果。 | ||
| 搜索关键词： | 电子设备 电子设备可靠性 薄弱环节 失效机理 失效模式 物理模型 应力耦合 工艺参数信息 可靠性仿真 可靠性寿命 可靠性指标 结构材料 力场耦合 使用环境 寿命数据 评估 分析 | ||
【主权项】：
1.一种基于多应力耦合下电子设备可靠性评估方法，其特征在于，包括以下步骤：/nS1、确定电-热-力场耦合下电子设备的失效模式与失效机理；/n具体按以下子步骤执行：/nS11、确定电子设备在寿命周期内的任务剖面；/nS12、根据电子设备的任务剖面确定电子设备的环境载荷剖面；/nS13、根据任务剖面与环境载荷剖面得到相应电子设备的应力剖面集合；/nS14、根据应力剖面集合，对电子设备进行FMMEA分析，确定电子设备潜在的失效模式与失效机理；/nS2、根据步骤S1确定的电子设备失效模式与失效机理，建立多应力耦合下电子设备可靠性物理模型；/nS3、根据可靠性物理模型，对电子设备进行可靠性仿真分析；/n通过建立电子设备的材料模型、设计分析模型、故障机理模型与工程分析模型，结合电子设备预期承受的工作环境应力与潜在故障发展过程，定量地预计电子设备的可靠性，发现可靠性薄弱环节并输出故障列表、故障信息矩阵；/nS4、根据步骤S3确定的可靠性薄弱环节，对电子设备的可靠性指标进行评估；具体按以下子步骤执行：/nS41、利用单点、多点故障分布融合算法，得出电子设备的故障分布与可靠性水平；/nS42、通过失效统计分布与可靠性寿命特征量的内在关系，确定电子设备的可靠性寿命特征量。/n
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