[发明专利]一种红外热像仪NETD与MRTD快速测试装置及方法有效
| 申请号： | 201910794360.6 | 申请日： | 2019-08-27 |
| 公开（公告）号： | CN110470404B | 公开（公告）日： | 2021-02-26 |
| 发明（设计）人： | 张鸿波;赵晟晨;李成世;刘子骥 | 申请（专利权）人： | 成都盈盛源电气科技有限公司 |
| 主分类号： | G01J5/00 | 分类号： | G01J5/00 |
| 代理公司： | 成都虹盛汇泉专利代理有限公司 51268 | 代理人： | 刘冬静 |
| 地址： | 610041 四川省成*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开一种红外热像仪NETD与MRTD快速测试装置及方法，上位机采用脉冲宽度调制技术通过DMD控制器控制DMD芯片中棱镜的开关时间，以改变经DMD芯片反射进入平行光管的辐射信号占空比，通过建立黑体温度与进入平行光管的辐射信号占空比的对应关系，然后通过调整进入平行光管的辐射信号占空比测量得到不同占空比对应的被测红外热像仪的探测器输出信号电压，最后根据测量得到的被测红外热像仪的探测器输出信号电压计算NETD与MRTD；本发明的方法通过控制进入平行光管的辐射信号占空比，改变最终辐射能量，节省了黑体变温过程的等待时间，提高了NETD与MRTD的计算效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 红外 热像仪 netd mrtd 快速 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.一种红外热像仪测试装置，其特征在于，包括：黑体、DMD芯片、DMD控制器、平行光管、被测红外热像仪、数据采集及控制系统、上位机；黑体、DMD控制器、被测红外热像仪均与上位机相连；DMD芯片与DMD控制器相连；/n黑体用于产生红外辐射，DMD芯片处于黑体辐射范围内，上位机通过DMD控制器实现对DMD芯片中棱镜的开关时间的控制；平行光管用于将DMD芯片中棱镜的反射光变成平行光出射进入被测红外热像仪的探测器；被测红外热像仪的探测器将探测到的数据传送到上位机。/n
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