[发明专利]一种低温交/直流电学性质测试装置

摘要

本发明公开一种低温交/直流电学性质测试装置，包括导热铜板和样品托，样品托上设置第一弹片和第二弹片，第二弹片连接有导线，第二弹片的顶部设置有探针，样品托底部设置导热铜柱，将待测样件放置于样品托上，令四根导线与待测样件的四端电极相接触，令四根探针分别与四个第二弹片接触后，与探针连接的直流测试仪表能够表征待测样件的直流电学性能参数；当测试待测样件的交流电学性质前，令第一弹片与待测样件的顶电极相接，导热铜柱与待测样件底部的底电极相接触，通过交流测试仪表即可表征待测样件的交流电学性能参数；通过向导热铜板的空腔内通入低温干燥氮气实现待测样件处于低温环境中，通过控制氮气的流速实现控制温度的改变。

主权项

1.一种低温交/直流电学性质测试装置，其特征在于：包括石英罩、支撑架、升降平台、样品托载台、导热铜板和样品托，所述样品托、所述导热铜板、所述样品托载台顺次叠加设置于所述支撑架上，所述样品托能够容纳待测样件，所述样品托、所述导热铜板、所述样品托载台均设置于所述石英罩的内腔中，且所述石英罩与所述支撑架相抵接，所述样品托载台远离所述导热铜板的一端伸出所述石英罩并与所述升降平台相连，所述升降平台设置于所述支撑架的底部，所述升降平台能够带动所述样品托载台上下运动，所述样品托载台与所述石英罩之间设置密封元件，所述石英罩设置抽真空管，所述抽真空管与所述石英罩的内腔相连通；所述样品托上设置一个第一弹片和四个第二弹片，所述第一弹片和所述第二弹片均由导电材质制成，四个所述第二弹片呈周向均布，所述第一弹片和所述第二弹片通过紧固螺钉与所述样品托相连，所述样品托由绝缘材质制成，所述样品托放入待测样件后，所述第一弹片能够与待测样件抵接，所述第二弹片与待测样件之间具有间隙，四个所述第二弹片分别连接有导线，所述导线固定在所述紧固螺钉上，所述导线能够与待测样件抵接，四个所述第二弹片的顶部分别设置有探针，所述探针穿过所述石英罩连接有直流测试仪表，所述样品托还设置导热铜柱，所述导热铜柱能够与放入所述样品托的待测样件抵接，所述第一弹片和所述导热铜柱均连接有屏蔽线缆，所述屏蔽线缆能够穿过所述石英罩与交流测试仪表相连；所述导热铜板为中空结构，所述导热铜板设置气体入口和气体出口，所述气体入口和所述气体出口均与所述导热铜板的内腔相连通，所述气体入口与外界低温氮气源相连，所述气体出口与外界环境相连通。