[发明专利]具有复合电子阻挡层的外延结构、制作方法及LED芯片在审
申请号: | 201910794678.4 | 申请日: | 2019-08-27 |
公开(公告)号: | CN110416375A | 公开(公告)日: | 2019-11-05 |
发明(设计)人: | 蔺宇航;卓祥景;王爱民;程伟;尧刚 | 申请(专利权)人: | 厦门乾照半导体科技有限公司 |
主分类号: | H01L33/06 | 分类号: | H01L33/06;H01L33/14;H01L33/32;H01L33/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 361001 福建省厦门市*** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | 本发明提供一种具有复合电子阻挡层的外延结构、制作方法及LED芯片,通过在外延结构形成由AlxGa1‑xN/GaN超晶格电子阻挡层、InmAlnGa1‑m‑nN单层和InyAlzGa1‑y‑zN/GaN超晶格电子阻挡层组成的复合电子阻挡层,增加了电子有效势垒高度,有效减少电子泄露;且减小了空穴与溢出电子的复合概率,提高了空穴注入效率;在AlxGa1‑xN/GaN超晶格电子阻挡层和InyAlzGa1‑y‑zN/GaN超晶格电子阻挡层之间插入高Al和高In组分的InAlGaN单层,实现应力匹配、能带调节以及减小极化电场,增加波函数交迭程度,减小非辐射速率,提升LED芯片整体的发光效率。 | ||
搜索关键词: | 超晶格电子阻挡层 复合电子 外延结构 阻挡层 减小 单层 空穴 空穴注入效率 有效势垒高度 发光效率 复合概率 极化电场 有效减少 波函数 非辐射 交迭 溢出 制作 匹配 泄露 | ||
【主权项】:
1.一种具有复合电子阻挡层的外延结构,其特征在于,包括依次层叠的衬底、第一型半导体层、有源层、复合电子阻挡层和第二型半导体层;所述复合电子阻挡层包括AlxGa1‑xN/GaN超晶格电子阻挡层、InyAlzGa1‑y‑zN/GaN超晶格电子阻挡层以及高Al组分和高In组分的InmAlnGa1‑m‑nN单层,其中,0<x<1,0<y<1,0<z<1,0<m<1,0<n<1,y+z<1,m+n<1;所述AlxGa1‑xN/GaN超晶格电子阻挡层、InmAlnGa1‑m‑nN单层和InyAlzGa1‑y‑zN/GaN超晶格电子阻挡层依次层叠,所述AlxGa1‑xN/GaN超晶格电子阻挡层靠近有源层设置,所述InyAlzGa1‑y‑zN/GaN超晶格电子阻挡层靠近第二型半导体层设置。
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