[发明专利]用于激光脉冲对比度测量的四阶自相关仪在审
| 申请号： | 201910796458.5 | 申请日： | 2019-08-27 |
| 公开（公告）号： | CN110530533A | 公开（公告）日： | 2019-12-03 |
| 发明（设计）人： | 刘军;王鹏;申雄;李儒新 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
| 主分类号： | G01J11/00 | 分类号： | G01J11/00 |
| 代理公司： | 31317 上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙) | 代理人： | 张宁展<国际申请>=<国际公布>=<进入 |
| 地址： | 201800 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种用于激光脉冲对比度测量的四阶自相关仪，包括分束片、基于简并三阶非线性取样光产生装置、自相关装置、数据采集与处理装置，本发明通过获得四阶自相关信号光来表征脉冲的对比度信息，避免待测脉冲后延小脉冲给自相关过程引入的测量误差；同时由于是自相关过程，有效避免了群速度失配给测量时间分辨率带来的限制，这种四阶自相关仪可以为具有高对比度激光脉冲的对比度提升和应用研究提供重要的测量支持。 | ||
| 搜索关键词： | 自相关 测量 四阶 自相关仪 脉冲 数据采集与处理装置 激光脉冲对比度 对比度提升 对比度信息 三阶非线性 时间分辨率 产生装置 高对比度 激光脉冲 应用研究 分束片 取样光 小脉冲 信号光 配给 简并 引入 | ||
【主权项】：
1.一种用于激光脉冲对比度测量的四阶自相关仪，特征在于其构成包括分束片(1)、基于简并三阶非线性取样光产生装置(2)、自相关装置(3)、数据采集与处理装置(4)，上述元部件的位置关系如下：/n入射光经过所述的分束片(1)分成反射光和透射光，所述的反射光作为待测光，所述的透射光经过所述的基于简并三阶非线性取样光产生装置(2)获得高能量高对比度的取样光，所述的待测光和取样光在所述的自相关装置(3)中相互作用获得四阶自相关信号光，所述的四阶自相关信号光被所述的数据采集与处理装置(4)接收处理，获得所述待测光的对比度信息。/n
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