[发明专利]基于探测器温度的多点非均匀校正的方法有效
| 申请号： | 201910802663.8 | 申请日： | 2019-08-28 |
| 公开（公告）号： | CN110595630B | 公开（公告）日： | 2020-08-28 |
| 发明（设计）人： | 公志强;彭玲;汪利庆;刘仁军;何涛;覃杰;陈煜卓;周国栋;张文芳;岳云芳 | 申请（专利权）人： | 武汉华中数控股份有限公司 |
| 主分类号： | G01J5/10 | 分类号： | G01J5/10 |
| 代理公司： | 北京汇泽知识产权代理有限公司 11228 | 代理人： | 秦曼妮 |
| 地址： | 430223 湖北省武汉市东*** | 国省代码： | 湖北;42 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供了一种基于探测器温度的多点非均匀校正的方法，包括以下步骤：在探测器工作温度范围内采集多幅均匀的背景图像，保存各背景图像的本底信息，并记录对应的探测器温度AD值；根据采集的各背景图像的本底信息以及对应的探测器温度AD值拟合探测器当前温度下的本底；将探测器依次稳定在多个不同的温度点，在各温度点下分别采集高温背景和低温背景，计算探测器不同温度点对应的增益，并保存增益数据，同时保存对应的探测器温度AD值；利用探测器不同温度点对应的增益拟合探测器当前温度对应的增益；利用探测器当前温度下的本底以及探测器当前温度对应的增益，对红外图像进行校正。本发明无需打快门，节约生产成本，且能够自适应的校正红外图像。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 探测器 温度 多点 均匀 校正 方法 | ||
【主权项】：
1.一种基于探测器温度的多点非均匀校正的方法，其特征在于，包括以下步骤：/n(1)在探测器工作温度范围内采集多幅均匀的背景图像，保存各背景图像的本底信息，并记录对应的探测器温度AD值；/n(2)根据采集的各背景图像的本底信息以及对应的探测器温度AD值拟合探测器当前温度下的本底；/n(3)将探测器依次稳定在多个不同的温度点，在各温度点下分别采集高温背景和低温背景，计算探测器不同温度点对应的增益，并保存增益数据，同时保存对应的探测器温度AD值；/n(4)利用探测器不同温度点对应的增益拟合探测器当前温度对应的增益；/n(5)利用步骤(2)得到的探测器当前温度下的本底以及步骤(4)得到的探测器当前温度对应的增益，对红外图像进行校正。/n
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于武汉华中数控股份有限公司，未经武汉华中数控股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201910802663.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种温度检测终端及其检测方法
- 下一篇：一种红外瞄准镜非均匀性校正快门装置
