[发明专利]GaN基发光二极管外延结构及其制备方法在审

专利信息
申请号: 201910802909.1 申请日: 2019-08-28
公开(公告)号: CN110635005A 公开(公告)日: 2019-12-31
发明(设计)人: 游正璋;卢国军 申请(专利权)人: 映瑞光电科技(上海)有限公司
主分类号: H01L33/06 分类号: H01L33/06;H01L33/12;H01L33/14;H01L33/32;H01L33/00
代理公司: 44224 广州华进联合专利商标代理有限公司 代理人: 傅康
地址: 200135 上海*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 本申请涉及一种GaN基发光二极管外延结构及其制备方法,该外延结构包括:衬底;N型外延层,位于衬底上;发光层,位于N型外延层上;电子阻挡层,位于发光层上;及P型外延层,包括P型主体结构和超晶格结构,超晶格结构包括交替叠设的InAlGaN层和InGaN层,其中,InAlGaN层具有P型掺杂,InGaN层未掺杂。上述外延结构,其P型外延层中由于设有超晶格结构,能够提升空穴的传输能力,且选用InAlGaN层和InGaN层,既能提高对电子的阻挡能力,避免电子进入P型外延层消耗空穴,还能释放应力,使结构更加稳定。
搜索关键词: 超晶格结构 外延结构 空穴 发光层 衬底 电子阻挡层 传输能力 主体结构 未掺杂 叠设 制备 阻挡 消耗 释放 申请
【主权项】:
1.一种GaN基发光二极管外延结构,其特征在于,包括:/n衬底;/nN型外延层,位于所述衬底上;/n发光层,位于所述N型外延层上;/n电子阻挡层,位于所述发光层上;及/nP型外延层,包括P型主体结构和超晶格结构,所述超晶格结构包括交替叠设的InAlGaN层和InGaN层,其中,所述InAlGaN层具有P型掺杂,所述InGaN层未掺杂。/n
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