[发明专利]一种超导量子芯片串扰矩阵测量方法有效
| 申请号： | 201910803885.1 | 申请日： | 2019-08-28 |
| 公开（公告）号： | CN112444715B | 公开（公告）日： | 2021-12-03 |
| 发明（设计）人： | 孔伟成;赵勇杰;朱美珍;杨夏 | 申请（专利权）人： | 合肥本源量子计算科技有限责任公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 230088 安徽省合肥市高新*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明属于芯片测控领域，具体公开了一种超导量子芯片串扰矩阵测量方法。所述超导量子芯片上设置有多个超导量子比特装置，任意两所述超导量子比特装置之间均会存在串扰；给各所述超导量子比特装置均配置一个直流电压偏置信号，并记为第一信号组合；针对选定的所述超导量子比特装置，只更新所述第一信号组合中对应的所述超导量子比特装置的所述直流电压偏置信号使得所述超导量子比特装置的频率处于串扰工作点频率，得到第一目标信号组合；在所述超导量子芯片上施加所述第一目标信号组合，即可测量任意两个所述超导量子比特装置之间的第一串扰系数，所述第一串扰系数为串扰矩阵的一部分。本发明提供了超导量子芯片的串扰矩阵的标准测量方法。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 超导 量子 芯片 矩阵 测量方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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