[发明专利]一种多硬盘批量对比测试系统及方法在审

专利信息
申请号: 201910804524.9 申请日: 2019-08-28
公开(公告)号: CN110515786A 公开(公告)日: 2019-11-29
发明(设计)人: 李修录;朱小聪;尹善腾;吴健全 申请(专利权)人: 深圳市安信达存储技术有限公司
主分类号: G06F11/22 分类号: G06F11/22
代理公司: 44519 深圳余梅专利代理事务所(特殊普通合伙) 代理人: 井杰<国际申请>=<国际公布>=<进入国
地址: 518000 广东省深圳市宝安区航城*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种多硬盘批量对比测试系统,其包括有:测试板卡,插接有多个被测硬盘;测试主机,安装有操作系统,所述操作系统包括有数据界面,所述测试主机与所述测试板卡电性连接,所述测试主机用于对插接于所述测试板卡的多个被测硬盘进行测试,并将多个被测硬盘的测试结果同时显示于所述数据界面。本发明可同时对多个硬盘进行测试,从而实现了批量操作,不仅能提高测试效率,而且大大节省了人工成本,此外,本发明可同时显示多个被测硬盘的测试结果,使得多个硬盘的测试结果得以直观展示,便于技术人员进行集中对比、判断,使得测试过程具有更高的可靠性,从而保障了硬盘的产品品质,较好地满足了应用需求。
搜索关键词: 硬盘 测试板卡 测试主机 数据界面 操作系统 测试 测试过程 测试效率 产品品质 电性连接 对比测试 批量操作 人工成本 应用需求 多硬盘 插接 对插 直观 展示
【主权项】:
1.一种多硬盘批量对比测试系统,其特征在于,包括有:/n测试板卡(1),插接有多个被测硬盘(2);/n测试主机(3),安装有操作系统,所述操作系统包括有数据界面(4),所述测试主机(3)与所述测试板卡(1)电性连接,所述测试主机(3)用于对插接于所述测试板卡(1)的多个被测硬盘(2)进行测试,并将多个被测硬盘(2)的测试结果同时显示于所述数据界面(4)。/n
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