[发明专利]一种超低功耗薄层高压功率器件有效
申请号: | 201910805845.0 | 申请日: | 2019-08-29 |
公开(公告)号: | CN110473907B | 公开(公告)日: | 2020-09-29 |
发明(设计)人: | 罗小蓉;李聪聪;樊雕;魏杰;邓高强;王晨霞;苏伟;张森;杨永辉;朱坤峰 | 申请(专利权)人: | 电子科技大学;重庆中科渝芯电子有限公司 |
主分类号: | H01L29/06 | 分类号: | H01L29/06;H01L29/739 |
代理公司: | 成都点睛专利代理事务所(普通合伙) 51232 | 代理人: | 孙一峰 |
地址: | 611731 四川省*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本发明属于功率半导体技术领域,具体涉及一种超低功耗薄层高压功率器件。本发明主要特征在于:包含发射极端凹形槽和集电极槽栅。正向导通时,集电极槽栅相比集电极为负压,将其下的N型漂移区耗尽,消除正向导通时存在的电压折回效应,在N‑buffer靠近其侧有空穴积累,增强空穴注入;发射极侧凹形槽通过物理压缩空穴抽取通道,阻止空穴被抽取,由于电中性要求,更多电子被注入漂移区,降低正向压降。关断过程中,集电极槽栅相比集电极为正压,N‑buffer靠近集电极槽栅空穴积累层消失,停止向漂移区内注入空穴,使得关断速度大幅提高。本发明的有益效果为,相对传统短路阳极SOI LIGBT结构,本发明具有更低导通压降以及更快关断速度,Von‑Eoff折中更佳,且消除电压折回效应。 | ||
搜索关键词: | 一种 功耗 薄层 高压 功率 器件 | ||
【主权项】:
1.一种超低功耗薄层高压功率器件,包括沿器件垂直方向自下而上层叠设置的衬底层(1),埋氧层(2)和N型顶部半导体层(14);所述N型顶部半导体层(14)表面沿横向方向依次具有发射极结构、栅极结构和集电极结构;/n所述发射极结构包括沿器件垂直方向贯穿N型顶部半导体层(14)与埋氧层(2)上表面接触的P型阱区(3),以及位于P型阱区(3)上部的沿横向方向并列设置的P型重掺杂区(4)和N型重掺杂区(5),所述P型重掺杂区(4)和N型重掺杂区(5)相互接触,所述P型重掺杂区(4)和N型重掺杂区(5)上表面共同引出发射极电极,N型重掺杂区(5)位于靠近栅极结构的一侧;以三维直角坐标系对器件的三维方向进行定义:定义器件横向方向为x轴方向、器件垂直方向为y轴方向、器件纵向方向即第三维方向为z轴方向;/n其特征在于:/n所述栅极结构包括第一导电材料(6)和第一栅介质(7);所述第一导电材料(6)嵌入设置在靠近发射极结构一侧的第一栅介质(7)上层,第一导电材料(6)上表面与另一侧第一栅介质(7)上表面齐平,沿x轴方向,第一导电材料(6)及其底部的第一栅介质(7)中部沿y轴方向下凹形成第一凹形槽(13),第一凹形槽(13)与埋氧层(2)上表面之间有间距T,形成狭窄的导电路径;所述第一栅介质(7)一侧的下表面与N型重掺杂区(5)的部分上表面交叠,第一栅介质(7)的另一侧与集电极结构有间距;第一导电材料(6)上表面引出栅极电极;/n所述集电极结构沿x轴方向依次包括N型缓冲层(8)、P型重掺杂区(9)和N型重掺杂区(10);N型缓冲层(8)位于靠近栅极结构一侧,P型重掺杂区(9)和N型重掺杂区(10)嵌入设置在N型缓冲层(8)远离栅极结构一侧上层,且P型重掺杂区(9)沿x轴方向将N型重掺杂区(10)的中部贯穿;沿z轴方向,P型重掺杂区(9)的两端具有第二导电材料(12),且第二导电材料(12)沿y轴方向贯穿P型重掺杂区(9),第二导电材料(12)沿x轴方向的横切面呈凹槽形成集电极槽栅(15),第二导电材料(12)还沿x轴方向延伸,将P型重掺杂区(9)和N型重掺杂区(10)隔离,且第二导电材料(12)与N型缓冲层(8)、P型重掺杂区(9)和N型重掺杂区(10)之间通过第二栅介质(11)隔离,凹槽的底部与埋氧层结构(2)上表面之间有间距T;所述P型重掺杂区(9)和N型重掺杂区(10)上表面共同引出集电极电极;/n所述第二导电材料(12)表面引出集电极槽栅电极;所述的集电极槽栅电极与集电极之间存在偏置电压:器件导通时集电极槽栅电极相对于集电极的电压为负值,器件关断时集电极槽栅电极相对于集电极的电压为正值。/n
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