[发明专利]一种应用于损耗均衡的存储单元质量度量方法有效
| 申请号： | 201910807106.5 | 申请日： | 2019-08-29 |
| 公开（公告）号： | CN110580932B | 公开（公告）日： | 2021-04-06 |
| 发明（设计）人： | 刘政林;潘玉茜;陈卓;文思诚 | 申请（专利权）人： | 华中科技大学 |
| 主分类号： | G11C16/34 | 分类号： | G11C16/34 |
| 代理公司： | 华中科技大学专利中心 42201 | 代理人： | 李智;廖盈春 |
| 地址： | 430074 湖北*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种应用于损耗均衡的存储单元质量度量方法，包括以下步骤：S1、根据实际存储系统的测量能力，从存储单元的特征集合中选取多个特征值作为存储单元质量度量特征；S2、根据存储单元质量度量特征和预训练的存储单元质量度量模型，计算得到存储单元质量度量结果。本发明考虑到存储单元不同时期的损耗程度差异，采用操作时间、阈值电压分布等多个能够更加准确反映存储单元当前可靠性状态的度量特征，并建立了一种准确的应用于损耗均衡的存储单元质量度量模型，能够大幅提高质量度量结果的准确度，从而提高存储系统损耗均衡执行效率并延长存储系统的使用寿命。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 应用于 损耗 均衡 存储 单元 质量 度量 方法 | ||
【主权项】：
1.一种应用于损耗均衡的存储单元质量度量方法，其特征在于，包括以下步骤：/nS1、根据实际存储系统的测量能力，从存储单元的特征集合中选取多个特征值作为存储单元质量度量特征；/nS2、根据存储单元质量度量特征和预训练的存储单元质量度量模型，计算得到存储单元质量度量结果。/n
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