[发明专利]一种利用双能衍射测量应变分布的方法及装置有效
| 申请号： | 201910807183.0 | 申请日： | 2019-08-29 |
| 公开（公告）号： | CN110514681B | 公开（公告）日： | 2020-06-16 |
| 发明（设计）人： | 易栖如;张杰;黎刚;王艳萍;姜晓明 | 申请（专利权）人： | 中国科学院高能物理研究所;中国科学院北京综合研究中心 |
| 主分类号： | G01N23/20 | 分类号： | G01N23/20;G01N23/20008;G01N23/207 |
| 代理公司： | 北京天达知识产权代理事务所(普通合伙) 11386 | 代理人： | 李明里 |
| 地址： | 100049 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种利用双能衍射测量应变分布的方法及装置，属于材料应力测量技术领域，解决了现有技术中测量装置和数据分析复杂、很难得到大面积应变分布信息、难以直接测量第一类应变分布的问题。该方法包括以下步骤：分别获得以E1、E2能量X射线照射下产生的第一衍射斑和第二衍射斑；获得第一衍射斑和第二衍射斑的像素点在不同旋转角度时的光强及对应像素点在光强最大时对应的旋转角度差；根据能量E1、能量E2和旋转角度差确定第一衍射斑中像素点对应的布拉格角；利用布拉格角确定第一衍射斑像素点对应位置的应变，以获得样品待测晶面的第一类应变分布。该方法测量简单、误差小、可以得到大面积应变分布信息、可直接测量第一类应变分布。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 利用 衍射 测量 应变 分布 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种利用双能衍射测量应变分布的方法，其特征在于，包括以下步骤：/n分别获得以E1、E2能量X射线照射下产生的第一衍射斑和第二衍射斑；/n获得第一衍射斑和第二衍射斑的像素点在不同旋转角度时的光强；/n获得第一衍射斑和第二衍射斑中的对应像素点在光强最大时对应的旋转角度差；/n根据所述能量E1、能量E2和对应像素点的旋转角度差确定第一衍射斑中像素点对应的布拉格角；/n利用所述布拉格角确定第一衍射斑像素点对应位置的应变，从而获得样品待测晶面的第一类应变分布。/n
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