[发明专利]一种利用荧光光谱特征信息实现快速识别比对的方法有效

专利信息
申请号: 201910808925.1 申请日: 2019-08-29
公开(公告)号: CN110554013B 公开(公告)日: 2022-05-20
发明(设计)人: 何鹰;魏峨尊;高贝贝;王南达;王欣;李京都;刘莎莎 申请(专利权)人: 华夏安健物联科技(青岛)有限公司
主分类号: G01N21/64 分类号: G01N21/64;G06K9/62
代理公司: 青岛博雅知识产权代理事务所(普通合伙) 37317 代理人: 封代臣
地址: 266555 山东省青岛市黄岛区保*** 国省代码: 山东;37
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摘要: 发明公开了一种利用荧光光谱特征信息实现快速识别比对的方法,该方法包括:(1)将原始荧光光谱文件中有效的行列数据信息保存,剔除文件中的非数据部分等共计34个步骤,本发明所公开的方法无须经过上述繁琐的数学解析方法,仅对由荧光仪采集的数据进行适当处理,通过选峰程序,确立荧光峰强度和峰中心位置坐标等特征信息,建立以峰强度和峰中心位置坐标等信息为基础的相关特征参数指标,由峰强度峰中心位置坐标计算得到的这些特征相关参数指标构建便于计算机自动计算的矩阵形式,从而与参照比对数据库的样本进行相似度系数的计算与匹配,获得准确的识别与判别信息,识别与比对正确率高,检测速度快。
搜索关键词: 一种 利用 荧光 光谱 特征 信息 实现 快速 识别 方法
【主权项】:
1.一种利用荧光光谱特征信息实现快速识别比对的方法,其特征在于,包括如下步骤:/n(1)保存污水原始荧光光谱文件中有效的行列数据信息,剔除文件中的非数据部分;/n(2)保存荧光光谱的激发波长、发射波长信息;/n(3)同时扣除污水原始荧光光谱文件中的一级瑞利散射干扰峰和拉曼干扰峰;/n根据瑞利散射公式:瑞利散射光强度与入射光波长的四次方成反比;设激发波长Ex为220至450nm,发射波长Em为250至600nm,在x-y平面坐标系上,将激发发射坐标点(250,250)与(450,450)相连,扣除该连线上发射波长为±20nm的原始扫描数据,如果激发波长扫描间隔为5nm,则还需要扣除激发波长245nm、发射波长在250-259nm处的原始扫描数据,根据下列通用荧光公式,即可完成对污水原始荧光光谱文件中的一级瑞利散射干扰峰的扣除;/n
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