[发明专利]厚度检测装置、方法、系统、存储介质和处理器在审

专利信息
申请号: 201910809964.3 申请日: 2019-08-29
公开(公告)号: CN110425973A 公开(公告)日: 2019-11-08
发明(设计)人: 林永辉;张凯;孙晓锋;宋荣鑫;曲涛 申请(专利权)人: 威海华菱光电股份有限公司
主分类号: G01B7/06 分类号: G01B7/06
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 代理人: 董文倩
地址: 264209 山东省威海*** 国省代码: 山东;37
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摘要: 本申请提供了一种厚度检测装置、方法、系统、存储介质和处理器。该厚度检测装置包括:检测单元,包括多个厚度检测芯片,厚度检测芯片至少沿第二方向依次排列;公共单元,与检测单元在第一方向上相对且间隔设置,公共单元的第一表面的至少两个位置与检测单元之间的距离不同,第二方向分别与第一方向以及待测物体的移动方向垂直,第一表面为公共单元的靠近检测单元的表面。该厚度检测装置中,公共单元的第一表面的至少两个位置与检测单元之间的距离不同,使得公共单元的至少两个位置与检测单元之间的间隔不同,从而减小了厚度检测装置卡纸的可能性,提高了厚度检测装置的实用性。该厚度检测装置的公共单元制作简单且成本低,适用于连续测量的场合。
搜索关键词: 厚度检测装置 公共单元 第一表面 检测 存储介质 厚度检测 处理器 芯片 靠近检测单元 待测物体 间隔设置 连续测量 依次排列 移动方向 减小 卡纸 垂直 制作 申请
【主权项】:
1.一种厚度检测装置,其特征在于,包括:检测单元,包括多个厚度检测芯片,所述厚度检测芯片至少沿第二方向依次排列;公共单元,与所述检测单元在第一方向上相对且间隔设置,所述公共单元的第一表面的至少两个位置与所述检测单元之间的距离不同,所述第二方向分别与所述第一方向以及待测物体的移动方向垂直,所述第一表面为所述公共单元的靠近所述检测单元的表面。
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