[发明专利]TDI探测器的高光溢出性能测试系统及测试方法有效
| 申请号： | 201910810172.8 | 申请日： | 2019-08-29 |
| 公开（公告）号： | CN110536131B | 公开（公告）日： | 2021-01-05 |
| 发明（设计）人： | 余达;刘金国;梅贵;薛旭成;石俊霞;齐洪宇;张立华 | 申请（专利权）人： | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 主分类号： | H04N17/00 | 分类号： | H04N17/00 |
| 代理公司： | 长春众邦菁华知识产权代理有限公司 22214 | 代理人： | 朱红玲 |
| 地址： | 130000 吉*** | 国省代码： | 吉林;22 |
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| 摘要： | TDI探测器的高光溢出性能测试系统及测试方法，TDI探测器性能测试领域，解决目前行业内无相关的测试方法，导致TDI探测器存在高光溢出问题时，无法获得准确的成像参数性能测试结果的问题，包括TDI探测器及成像电路、积分球、开关时间可控的星点光源、图像采集及控制系统以及探测器感光区部分的挡光结构；本发明根据在轨应用的具体情况，在地面进行在轨模拟实验；采用面阵CTE模式和感光区域部分遮光，两种方式对探测器的抗晕性能进行评估。对感光区域进行部分遮光，避免像素饱和后无法进行是否溢出的判断，甄别感光区域饱和是由于入射光能量过强还是发生高光溢出引起，筛选出满足应用要求的TDI探测器产品。 | ||
| 搜索关键词： | tdi 探测器 溢出 性能 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
1.TDI探测器高光溢出性能测试系统，包括TDI探测器及成像电路、积分球、开关时间可控的星点光源、图像采集及控制系统以及探测器感光区部分的挡光结构；所述测试系统工作在CTE面阵工作模式和部分挡光的TDI线阵工作模式；/n在所述CTE面阵工作模式下，采用图像采集及控制系统控制开关时间可控的星点光源作为TDI探测器的照明光源，所述图像采集及控制系统对TDI探测器及成像电路进行控制，产生成像控制的相关信号，并进行通信获取成像状态；/n在TDI探测器开始曝光前，打开开关时间可控的星点光源；当TDI探测器曝光结束后，关闭开关时间可控的星点光源，然后开始进行电荷的逐行转移，读出感光区所有行的电荷，并转换为数字图像数据输出到图像采集及控制系统进行图像的分析，确定是否出现了高光溢出；/n在所述部分挡光TDI线阵工作模式下，采用积分球作为TDI探测器的照明光源，并使用TDI探测器感光区部分的挡光结构进行感光区的部分挡光，TDI探测器工作在指定的TDI级数n下，对n行电荷转移读出并进行叠加，最终转换为数字图像数据输出，输出到图像采集及控制系统进行图像的分析，确定是否出现了高光溢出。/n
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