[发明专利]一种低温光谱发射率测量系统

摘要

本发明公开了一种低温光谱发射率测量系统，其包括变温黑体、低温样品炉、平面反射镜、低温参考黑体、低温斩波器、光路传输管道、反射镜真空仓、标准辐射计、椭球面反射镜、样品真空仓、低温光阑、金刚石窗片、傅立叶红外光谱仪、锁相放大器和信号传输线，通过低温斩波器实现低温发射辐射信号的斩波调制，并经过锁相放大器放大后输入傅立叶红外光谱仪进行傅立叶变换得到增强的红外辐射信号，从而有效减少噪音带来的影响。本发明能够对低温辐射信号进行低温斩波调制，并进行锁相放大，减小了测量系统噪声的影响；本发明将斩波调制技术与傅立叶变换技术相结合，极大地提高了测量系统的信噪比。

主权项

1.一种低温光谱发射率测量系统，其特征在于包括反射镜真空仓及连接于反射镜真空仓上的光路传输管道，光路传输管道的辐射信号输入端设有沿管道径向分布的变温黑体、低温样品炉和低温参考黑体，该变温黑体、低温样品炉和低温参考黑体一侧的光路传输管道内设有用于实现变温黑体、低温样品炉和低温参考黑体辐射信号切换的平面反射镜，变温黑体、低温样品炉和低温参考黑体另一侧的光路传输管道内设有用于实现辐射信号调制的低温斩波器，反射镜真空仓内的真空平移台上设有并排固定的椭球面反射镜和标准辐射计，通过移动真空平移台实现椭球面反射镜和标准辐射计之间的切换，光路传输管道的信号输出端设有傅立叶红外光谱仪，该傅立叶红外光谱仪通过信号传输线与锁相放大器连接，通过低温斩波器实现低温辐射信号的斩波调制，并经过锁相放大器放大后输入傅立叶红外光谱仪进行傅立叶变换得到增强的红外辐射信号，从而有效减少噪声带来的影响。