[发明专利]X射线衍射仪用多线程样品测试方法

摘要

本发明涉及一种X射线衍射仪用多线程样品测试方法，该方法采用多线程技术，X射线衍射仪中CPU的一个内核启动输入线程，输入线程用于接收用户输入的样品信息和测试条件并将它们分别存储到对应的数组中，CPU的另一个内核启动测试线程，测试线程根据样品信息和测试条件控制探测器对样品进行测试，测试线程根据样品的样品信息保存测试结果并在显示终端上显示测试结果。本发明将样品的测试过程与样品信息和测试条件输入过程分别用计算机不同的线程来控制，实现了在样品信息和测试条件输入的同时后台线程利用另外的CPU核控制进行测试，节约了输入过程占用的时间，对于拥有多位样品台的高速X射线衍射仪来讲可以大大提高测试效率。

主权项

1.一种X射线衍射仪用多线程样品测试方法，其特征在于，包括以下步骤：/nX射线衍射仪中CPU的一个内核启动输入线程，输入线程接收用户输入的第一个样品的样品信息和测试条件并将样品信息和测试条件分别存储到对应的数组中，各个数组组成公用数据；/nCPU的另一个内核启动测试线程，测试线程根据公用数据中的第一个样品的测试条件控制多位样品台移动，将第一个样品移动至测试位置，并根据第一个样品的样品信息和测试条件控制探测器开始对第一个样品进行测试；/n第一个样品测试完成后，测试线程根据第一个样品的样品信息保存测试结果并在显示终端上显示测试结果，且测试线程对已测样品数目变量进行更新，更新后的已测样品数目变量的数值增加1；/n测试线程判断更新后的样品数目变量的数值是否小于公用数据中样品的总数，若是，则测试线程根据公用数据中的下一个样品的测试条件控制多位样品台移动，将下一个样品移动至测试位置，并根据下一个样品的样品信息和测试条件控制探测器开始对下一个样品进行测试；若否，则CPU关闭测试线程；/n输入线程将第一个样品的样品信息和测试条件分别存储到对应的数组中之后，在测试线程测试样品的同时，输入线程判断是否接收用户输入的全部样品的样品信息和测试条件，若否，则输入线程将下一个样品的样品信息和测试条件分别添加存储到公用数据中对应的数组中；若是，则CPU关闭输入线程。/n