[发明专利]一种共焦波导高频电路测试系统有效

专利信息
申请号: 201910813761.1 申请日: 2019-08-30
公开(公告)号: CN110596570B 公开(公告)日: 2021-09-24
发明(设计)人: 姚叶雷;王建勋;罗勇;王丽;陈锴文;鄢然;刘国;蒋伟;吴泽威;徐勇;蒲友雷 申请(专利权)人: 电子科技大学
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28;G01R27/28
代理公司: 电子科技大学专利中心 51203 代理人: 邓黎
地址: 611731 四川省成*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开了一种共焦波导高频电路测试系统,属于真空电子技术领域。该系统包括网络分析仪、扩频模块、过渡波导、和待测件模块,待测件模块为左右镜像对称结构,包括依次级联的第一TE10‑HE0n模式变换器、镜宽渐变收缩台阶、待测共焦波导高频电路结构、镜宽渐变增大台阶以及第二HE0n‑TE10模式变换器。本发明中待测高频电路长度任意、镜宽分布任意、工作模式任意,且待测件模块各单元结构可方便快捷的增加、减少、拆卸或安装。待测件模块各单元结构沿纵向级联,并采用相同的定位孔和螺钉通孔,保证高同轴度定位和装配。可应用于任意长度、任意镜宽分布的共焦波导高频电路传输特性测试。
搜索关键词: 一种 波导 高频 电路 测试 系统
【主权项】:
1.一种共焦波导高频电路测试系统,包括网络分析仪、第一扩频模块、第二扩频模块、同轴-矩形口过渡波导、矩形-同轴口过渡波导和待测件模块,所述网络分析仪产生激励信号,激励信号进入第一扩频模块后产生工作频段的信号,通过同轴-矩形口过渡波导馈入到待测件模块,然后通过矩形-同轴口过渡波导输出到第二扩频模块,最后回到网络分析仪,由网络分析仪得到待测件模块的频率响应特性;/n其特征在于:所述待测件模块为左右镜像对称结构,包括依次级联的第一TE
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