[发明专利]一种测试方法及装置在审
| 申请号： | 201910815360.X | 申请日： | 2019-08-30 |
| 公开（公告）号： | CN110531162A | 公开（公告）日： | 2019-12-03 |
| 发明（设计）人： | 刘安阳 | 申请（专利权）人： | 苏州浪潮智能科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R27/02 | 分类号： | G01R27/02 |
| 代理公司： | 11262 北京安信方达知识产权代理有限公司 | 代理人： | 富爱民;解婷婷<国际申请>=<国际公布> |
| 地址： | 215100 江苏省苏州市吴*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本申请提供一种测试方法及装置，所述方法包括：根据设定的待测试印刷电路板PCB的第一数量以及待测试信号线的第二数量，确定N个待测试印刷电路板PCB以及每个待测试PCB对应的M个待测试信号线，其中，所述第一数量和第二数量均为大于零的正整数，N等于第一数量，M等于第二数量；对每个待测试PCB的每条待测试信号线进行阻抗测试上述技术方案可以自动确定待测试的PCB和待测试信号线，避免了人工手动操作，从而可以提高测试效率和准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 待测试信号 测试印刷电路板 测试 测试方法及装置 测试效率 人工手动 自动确定 阻抗测试 正整数 申请 | ||
【主权项】：
1.一种测试方法，其特征在于，所述方法包括：/n根据设定的待测试印刷电路板PCB的第一数量以及待测试信号线的第二数量，确定N个待测试印刷电路板PCB以及每个待测试PCB对应的M个待测试信号线，其中，所述第一数量和第二数量均为大于零的正整数，N等于第一数量，M等于第二数量；/n对每个待测试PCB的每条待测试信号线进行阻抗测试。/n
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