[发明专利]一种利用折线型锥形多模光纤级联无芯光纤结构测量折射率的方法在审
| 申请号： | 201910817268.7 | 申请日： | 2019-08-30 |
| 公开（公告）号： | CN110389113A | 公开（公告）日： | 2019-10-29 |
| 发明（设计）人： | 王芳;常钦;马涛;庞凯博;王旭;刘玉芳 | 申请（专利权）人： | 河南师范大学 |
| 主分类号： | G01N21/45 | 分类号： | G01N21/45 |
| 代理公司： | 新乡市平原智汇知识产权代理事务所(普通合伙) 41139 | 代理人： | 周闯 |
| 地址： | 453007 河*** | 国省代码： | 河南;41 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种利用折线型锥形多模光纤级联无芯光纤结构测量折射率的方法，具体测量折射率过程为：折线型锥形多模光纤级联无芯光纤作为传感头放置在室温环境中，为防止光纤弯曲，使用紫外胶将制备的传感头稳定水平地固定在玻片上，然后将传感头浸入不同浓度即不同折射率的NaCl水溶液中，记录传输光谱后，使用去离子水净化传感头，恢复空气中的原始光谱，然后将传感头浸入新的NaCl水溶液中，记录新的传输光谱，最终得到传输光谱的波长的变化与折射率的对应线性关系并依据该对应线性关系实现折射率的测量。本发明的传感器在低折射率范围内具有较高的灵敏度，能够在较宽的温度范围内精确测量周围微小的折射率变化。 | ||
| 搜索关键词： | 传感头 折射率 锥形多模光纤 无芯光纤 折线型 级联 浸入 传输光谱 结构测量 线性关系 测量 测量折射率 折射率变化 低折射率 光纤弯曲 记录传输 去离子水 室温环境 稳定水平 原始光谱 灵敏度 传感器 紫外胶 波长 玻片 光谱 制备 净化 记录 恢复 | ||
【主权项】：
1.一种利用折线型锥形多模光纤级联无芯光纤结构测量折射率的方法，其特征在于主要由半导体光放大器、折线型锥形多模光纤、无芯光纤和光谱分析仪构成折射率测量系统，其中从半导体光放大器发出的波长范围从1200‑1700nm的宽带光依次通过输入单模光纤、折线型锥形多模光纤级联无芯光纤和输出单模光纤传输至光谱分析仪上，具体测量折射率过程为：折线型锥形多模光纤级联无芯光纤作为传感头放置在室温环境中，为防止光纤弯曲，使用紫外胶将制备的传感头稳定水平地固定在玻片上，然后将传感头浸入不同浓度即不同折射率的NaCl水溶液中，记录传输光谱后，使用去离子水净化传感头，恢复空气中的原始光谱，然后将传感头浸入新的NaCl水溶液中，记录新的传输光谱，最终得到传输光谱的波长的变化与折射率的对应线性关系并依据该对应线性关系实现折射率的测量。
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