[发明专利]镀膜透镜装置及应用该镀膜透镜装置的三维重建成像系统

摘要

本发明涉及一种镀膜透镜装置及应用该镀膜透镜装置的三维重建成像系统，该镀膜透镜装置包括控制模块、第一光源、第一条纹生成器、第二光源、第二条纹生成器、合光棱镜、投影透镜、第一偏振棱镜、第一四分之一波片、第一反射膜、第二偏振棱镜、第二四分之一波片、第二反射膜以及鱼眼采集器，其中，第一偏振棱镜内设有第一介质膜，第二偏振棱镜内设有第二介质膜，第一介质膜和第二介质膜呈预设角度设置。通过第一介质膜和第二介质膜，从而实现360度面结构光扫描，再通过鱼眼采集器分别采集第一光源和第二光源在待测物上产生的条纹，从而获得稠密的三维点云数据。

主权项

1.一种镀膜透镜装置，用于采集待测物上的条纹，其特征在于，包括控制模块、第一光源、第一条纹生成器、第二光源、第二条纹生成器、合光棱镜、投影透镜、第一偏振棱镜、第一四分之一波片、第一反射膜、第二偏振棱镜、第二四分之一波片、第二反射膜以及鱼眼采集器，其中，所述第一偏振棱镜内设有第一介质膜，所述第二偏振棱镜内设有第二介质膜，所述第一介质膜和第二介质膜呈预设角度设置，所述控制模块用于控制所述第一光源和所述第二光源交替发光，所述鱼眼采集器用于采集待测物上的条纹；/n所述控制模块控制所述第一光源发光，光线经过第一条纹生成器生成水平条纹，所述水平条纹依次经过所述合光棱镜、所述投影透镜及所述第一偏振棱镜，并通过所述第一偏振棱镜内的所述第一介质膜反射至待测物上，透过所述第一介质膜的水平条纹依次经过所述第一四分之一波片、所述第一反射膜及第一四分之一波片反射至所述第一介质膜上，并通过所述第一介质膜反射至待测物上；透过所述第一反射膜的水平条纹经过所述第二偏振棱镜，并通过所述第二偏振棱镜内的所述第二介质膜反射至待测物上，透过所述第二介质膜的水平条纹依次经过所述第二四分之一波片、所述第二反射膜及所述第二四分之一波片反射至所述第二介质膜上，并通过所述第二介质膜反射至待测物上；/n所述控制模块控制所述第二光源发光，光线经过所述第二条纹生成器生成垂直条纹，所述垂直条纹依次经过所述第一四分之一波片、所述第一反射膜及第一四分之一波片反射至所述第一介质膜上，并通过所述第一介质膜反射至待测物上，透过所述第一介质膜的所述垂直条纹依次经过所述第一四分之一波片、所述第一反射膜及所述第一四分之一波片反射至所述第一介质膜上，并通过所述第一介质膜反射至待测物上；透过所述第一反射膜的所述垂直条纹经过所述第二偏振棱镜，并通过所述第二偏振棱镜内的所述第二介质膜反射至待测物上，透过所述第二介质膜的所述垂直条纹依次经过所述第二四分之一波片、所述第二反射膜及所述第二四分之一波片反射至所述第二介质膜上，并通过所述第二介质膜反射至待测物上。/n