[发明专利]用于测试磁性器件的设备和系统有效
| 申请号： | 201910823610.4 | 申请日： | 2019-09-02 |
| 公开（公告）号： | CN110879345B | 公开（公告）日： | 2022-06-07 |
| 发明（设计）人： | O·迪布吕勒;M·德莱瓦克;P·莱托西 | 申请（专利权）人： | 迈来芯电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人： | 黄嵩泉;张鑫 |
| 地址： | 瑞士*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及用于测试磁性器件的设备和系统。一种用于在腔(q1)内生成可配置的3D磁场向量的线圈布置(1000)，包括：形成腔并具有第一轴(Z)的螺线管(Cz)，具有第二共同轴(X)的第一对线圈(Cx1、Cx2)和具有第三共同轴(Y)的第二对线圈(Cy1、Cy2)，所述三个轴在要被测试的芯片所位于的点处相交。一种测试布置(1210)，进一步包括用于保持液体的容器，并且该容器具有至少一个开口，用于提供通向该至少一个腔的通路。一种测试系统(1360)，进一步包括具有多个电流源的电单元，以及用于放置和保持要被测试的芯片的机械定位机构。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测试 磁性 器件 设备 系统 | ||
【主权项】：
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