[发明专利]一种测量高世代TFT基板玻璃下垂度的方法在审
| 申请号： | 201910823853.8 | 申请日： | 2019-09-02 |
| 公开（公告）号： | CN110553592A | 公开（公告）日： | 2019-12-10 |
| 发明（设计）人： | 彭寿;朱永迁;张冲;刘文瑞;张晓东 | 申请（专利权）人： | 蚌埠中光电科技有限公司;中建材蚌埠玻璃工业设计研究院有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/02 | 分类号： | G01B11/02 |
| 代理公司： | 34113 安徽省蚌埠博源专利商标事务所 | 代理人： | 陈俊 |
| 地址： | 233000 安徽*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明公开一种测量高世代TFT基板玻璃下垂度的方法，包括以下步骤：S1、取待测量的TFT基板玻璃样本；S2、沿TFT基板玻璃样本底面的中心线粘贴遮光条；S3、将TFT基板玻璃样本放置于测试支架；S4、将激光测距仪放置于测试平台上，利用激光测距仪测量测试平台至TFT基板玻璃样本最低点的垂直距离H | ||
| 搜索关键词： | 测量 激光测距仪 样本 下垂度 测试平台 测试支架 遮光条 玻璃表面 玻璃中心 测量玻璃 测量过程 测量机构 测试机构 垂直距离 干扰测试 不接触 上移动 抖动 粘贴 玻璃 世代 保证 | ||
【主权项】：
1.一种测量高世代TFT基板玻璃下垂度的方法，其特征在于，包括以下步骤：/nS1、取待测量的TFT基板玻璃样本；/nS2、沿TFT基板玻璃样本底面的中心线粘贴遮光条；/nS3、将TFT基板玻璃样本放置于测试支架；/nS4、将激光测距仪放置于测试平台上，利用激光测距仪测量测试平台至TFT基板玻璃样本最低点的垂直距离H
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