[发明专利]多晶硅SOI基板型光电耦合器、其集成电路及制备方法有效

专利信息
申请号: 201910824277.9 申请日: 2019-09-02
公开(公告)号: CN110518032B 公开(公告)日: 2022-12-23
发明(设计)人: 徐开凯;冯新;李建全;赵建明;张宁;冯志成;黄兴发;李健儿;廖楠;徐银森;洪继霖;陈勇;施宝球;曾尚文;李洪贞;刘继芝 申请(专利权)人: 电子科技大学;重庆中科渝芯电子有限公司;四川芯合利诚科技有限公司;四川晶辉半导体有限公司;四川蓝彩电子科技有限公司;四川遂宁市利普芯微电子有限公司;广东成利泰科技有限公司;四川上特科技有限公司
主分类号: H01L27/15 分类号: H01L27/15;H01L21/84
代理公司: 石家庄科诚专利事务所(普通合伙) 13113 代理人: 张红卫;张帆
地址: 611731 四川省成*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开了一种多晶硅SOI基板型光电耦合器,包括作为衬底硅的第一衬底、作为SiO2中间层的第一介质层和顶层多晶硅,顶层多晶硅通过低压力化学气相沉积法淀积在第一衬底上;光电耦合器包括制作在第一衬底中的硅光探测器、第一介质层以及制作在顶层多晶硅中的多晶硅光源。本发明还公开了上述光电耦合器的制作方法,并进一步公开了上述光电耦合器的集成电路及其制作方法。本发明的多晶硅光源与硅光探测器轴向排布,面积小、制造成本低,具有较高的光传输效率和集成度;本发明的光电耦合器可以与电路集成在同一个衬底上,多晶硅光源与硅光探测器轴向堆叠,进一步降低了制造成本,具有较高的集成度。本发明适用于光电耦合器的集成技术领域。
搜索关键词: 多晶 soi 基板型 光电 耦合器 集成电路 制备 方法
【主权项】:
1.一种多晶硅SOI基板型光电耦合器,其特征在于:包括作为衬底硅的第一衬底、作为SiO2中间层的第一介质层和顶层多晶硅,所述顶层多晶硅通过低压化学气相沉积法淀积在第一衬底上;/n所述多晶硅SOI基板型光电耦合器包括制作在第一衬底中的硅光探测器、第一介质层以及制作在顶层多晶硅中的多晶硅光源;/n所述第一衬底是n-掺杂/p-掺杂的硅衬底,第一衬底中注入有第一深p阱以及与第一深p阱相连形成第一岛的第一高深宽比p+阱和第二高深宽比p+阱,第一岛的上部嵌有第一薄n+阱;/n硅光探测器阴极从第一高深宽比p+阱引出、硅光探测器阳极从第一薄n+阱引出。/n
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