[发明专利]一种薄膜晶体管的制备方法在审

专利信息
申请号: 201910826414.2 申请日: 2019-09-03
公开(公告)号: CN112447855A 公开(公告)日: 2021-03-05
发明(设计)人: 韩德栋;李慧津;董俊辰;王漪;周孝斌;衣壮;周大中 申请(专利权)人: 北京大学
主分类号: H01L29/786 分类号: H01L29/786;H01L21/335;H01L21/027
代理公司: 北京万象新悦知识产权代理有限公司 11360 代理人: 贾晓玲
地址: 100871*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供一种薄膜晶体管制备方法,属于集成电路制造和显示领域。本发明的核心是整个薄膜晶体管全部采用原子层淀积技术制备,工艺温度低、成膜质量高、薄膜厚度控制精确。薄膜晶体管的绝缘层和有源层,采用相同的工艺手段、相同的淀积温度,可以连续生长,有利于减少沟道和绝缘体的界面陷阱和界面微变形,提高界面质量,改善器件的亚阈值摆幅。且有源层和绝缘层共用相同的光刻掩膜版图形化,因此减少了一次光刻,节约了工艺制造成本。本发明有望在未来的TFT集成电路和新型显示中得到应用。
搜索关键词: 一种 薄膜晶体管 制备 方法
【主权项】:
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