[发明专利]一种全静态太阳偏振光谱测量方法在审
| 申请号： | 201910830758.0 | 申请日： | 2019-09-04 |
| 公开（公告）号： | CN110553737A | 公开（公告）日： | 2019-12-10 |
| 发明（设计）人： | 宋志平;汪鹏 | 申请（专利权）人： | 安徽大学 |
| 主分类号： | G01J3/447 | 分类号： | G01J3/447;G01J3/02 |
| 代理公司： | 34158 合肥方舟知识产权代理事务所(普通合伙) | 代理人： | 朱荣 |
| 地址： | 230000 安徽省*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 一种全静态太阳偏振光谱测量方法，包括以下步骤：S1、使用全静态偏振分析器接收来自太阳大气光辐射信号，并输出光信号的功率谱；S2、使用空间外差光谱仪通过探测器一次曝光，测量记录全静态偏振分析器输出的功率谱对应的干涉图；因为空间外差光谱仪可实现超高分辨光谱静态测量，结合全静态的偏振分析器，本发明可以实现太阳磁敏谱线偏振光谱信息的全静态测量，可避免多次测量过程中引入的虚假偏振，提高太阳偏振光谱仪的偏振测量精度；没有转动件，可提高太阳偏振光谱仪系统的可靠性，降低系统的体积重量；同时，该技术方法具有很好的通用性，只需更换相关的光学器件，即可适配于不同波长太阳磁敏谱线的全偏振光谱测量。 | ||
| 搜索关键词： | 偏振 偏振光谱 太阳 静态测量 分析器 功率谱 磁敏 谱线 测量 空间外差光谱仪 超高分辨光谱 偏振光谱信息 分析器输出 光辐射信号 偏振光谱仪 光谱仪 测量记录 多次测量 光学器件 降低系统 偏振测量 使用空间 一次曝光 干涉图 输出光 转动件 波长 探测器 适配 外差 引入 | ||
【主权项】：
1.一种全静态太阳偏振光谱测量方法，其特征在于：包括以下步骤：/nS1、使用全静态偏振分析器接收来自太阳大气光辐射信号，并输出光信号的功率谱；/nS2、使用空间外差光谱仪通过探测器一次曝光，测量记录全静态偏振分析器输出的功率谱对应的干涉图；/nS3、通过计算机对干涉图进行滤波、傅里叶变换和解调制处理，即获得太阳大气辐射的偏振光谱信息。/n
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