[发明专利]一种符合判选方法、装置、设备及存储介质有效

专利信息
申请号: 201910833121.7 申请日: 2019-09-04
公开(公告)号: CN110507344B 公开(公告)日: 2022-05-13
发明(设计)人: 李俊;杨隆梓;郑威 申请(专利权)人: 上海联影医疗科技股份有限公司
主分类号: A61B6/03 分类号: A61B6/03
代理公司: 北京品源专利代理有限公司 11332 代理人: 孟金喆
地址: 201807 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明实施例公开了一种符合判选方法、装置、设备及存储介质。该方法包括:在正电子发射型计算机断层成像中,获取探测器探测到光子时的事件发生周期,根据事件发生周期判选出原始符合事件;获取与探测器对应的周期偏移量,根据周期偏移量对事件发生周期进行调整,根据调整结果判选出随机符合事件;根据随机符合事件确定出原始符合事件中的真符合事件。本发明实施例的技术方案,可以基于周期偏移量可以同时适用于跨探测器单元或单探测器单元内的任意两个探测器的随机符合事件的生成,由于原始符合事件包括真符合事件和随机符合事件,这样一来,就可以从原始符合事件筛选出真符合事件,符合判选正确率的改善可以显著提高PET设备的分辨率。
搜索关键词: 一种 符合 方法 装置 设备 存储 介质
【主权项】:
1.一种符合判选方法,其特征在于,包括:/n在正电子发射型计算机断层成像中,获取探测器探测到光子时的事件发生周期,根据所述事件发生周期判选出原始符合事件;/n获取与所述探测器对应的周期偏移量,根据所述周期偏移量对所述事件发生周期进行调整,根据调整结果判选出随机符合事件;/n根据所述随机符合事件确定出所述原始符合事件中的真符合事件;/n其中,所述周期偏移量是预设同步时钟周期的整数倍,各个所述周期偏移量互不相同,且任意两个所述周期偏移量之差大于预设符合窗宽。/n
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