[发明专利]一种电容器的修正方法

摘要

本发明涉及电容领域，本发明公开了一种电容器的修正方法，包括：S1、将检测装置通电预热，并设置等效电路模型；S2、设置检测装置的检测频率和电压；S3、进行开路和短路校准；S4、将标准电容器和被测电容器接入检测装置进行测量；S5、读数；S6、计算被测电容器的电容实际值和损耗因数实际值；S7、重复上述步骤，分别计算被测电容器的示值相对误差、相对偏差和年稳定性。改善现有电容器的修正方法准确度不够高的问题。

主权项

1.一种电容器的修正方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：S1、将检测装置通电预热，并设置等效电路模型：高阻抗值的电容器选择并联电路模型，低阻抗值的电容器选择串联电路模型；S2、设置检测装置的检测频率和电压：根据被测电容器的电容值大小设置检测装置的测量频率，根据被测电容器的工作电压范围选择测量电压；S3、进行开路和短路校准；S4、依次将标准电容器和被测电容器接入检测装置进行测量：用两根绞绕的同轴电缆分别将检测装置与标准电容器高端、低端相连，用两根绞绕的同轴电缆分别将检测装置与被测电容器高端、低端相连；S5、待显示数值稳定后，读取检测装置上的电容值和损耗因数值；S6、计算被测电容器的电容实际值和损耗因数实际值，计算公式分别为：C_X＝C_S+(C_b‑C_a)D_X＝D_S+(D_b‑D_a)式中，C_X为被测电容器的电容实际值，C_S为标准电容器的电容实际值，C_a为检测装置显示的标准电容器的电容值，C_b为检测装置显示的被检标准电容器的电容值；D_X为被测电容器的损耗因数实际值，D_S为标准电容器的损耗因数实际值，D_a为检测装置显示的标准电容器的损耗因数值，D_b为检测装置显示的被检标准电容器的损耗因数值；S7、重复上述步骤n次，计算被测电容器的示值相对误差δ、相对偏差σ和年稳定性γ，分别如下：其中，C_N为被测电容器的电容标称值，C_X′为上次周期检测的被测电容器的电容实际值。