[发明专利]一种厚松散层非充分采动条件下地面沉降预计方法有效

专利信息
申请号: 201910835260.3 申请日: 2019-09-05
公开(公告)号: CN110555559B 公开(公告)日: 2022-06-14
发明(设计)人: 常占强;王延巧;刘晓萌;钱淑君 申请(专利权)人: 首都师范大学
主分类号: G06Q10/04 分类号: G06Q10/04;G06Q50/02;G06F30/20;G06F119/14
代理公司: 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 代理人: 安丽
地址: 100048 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及一种厚松散层非充分采动条件下地面沉降预计方法,步骤1:地质采矿数据资料收集:包括:矿体参数(矿体开采厚度、倾角、走向开采长度、倾向开采长度),松散层参数(松散层厚度、密度),岩层力学参数(上覆岩层整体厚度、岩层平均密度、弹性模量、泊松比)以及采动深度、应力集中系数、主要影响半径;步骤2:确定弯曲带岩层厚度和弯曲带岩层最大扰度;步骤3:利用本发明提供的数学模型,求取因应力集中导致的岩层与松散层界面开采边界处的沉降量;步骤4:利用本发明提供的数学模型,用数值积分计算出因地下开采导致的地面任意点沉降值。本发明基于矿体参数、松散层参数、岩层力学参数以及采动深度、应力集中系数、主要影响半径,运用所提供的数学模型,可求取地面任意点沉降值。
搜索关键词: 一种 松散 充分 条件下 地面沉降 预计 方法
【主权项】:
1.一种厚松散层非充分采动条件下地面沉降预计方法,其特征在于包括以下步骤:/n步骤1:地质采矿数据资料收集,地质采矿数据包括:矿体参数、松散层参数、岩层力学参数、采动深度、应力集中系数和主要影响半径;所述矿体参数包括矿体开采厚度、倾角、走向开采长度和倾向开采长度;所述松散层参数包括松散层厚度和松散层密度;所述岩层力学参数包括:上覆岩层整体厚度、岩层平均密度、岩层弹性模量和岩层泊松比;/n步骤2:根据上覆岩层整体厚度、矿体开采厚度、岩层弹性模量、岩层泊松比、松散层厚度、松散层密度、岩层平均密度、矿体走向开采长度和倾向开采长度,确定弯曲带岩层厚度,弯曲带岩层最大扰度,为步骤4提供数据支撑;/n步骤3:根据上覆岩层整体厚度、岩层平均密度、岩层弹性模量、应力集中系数、松散层厚度和松散层密度,利用本发明提供的数学模型,求取因应力集中导致的岩层与松散层界面上开采边界处的沉降量,为步骤4提供数据支撑;/n步骤4:根据步骤1中的地质采矿数据、步骤2中求取的弯曲带岩层最大扰度和步骤3中所述的岩层与松散层界面上开采边界处的沉降量,利用本发明提供的数学模型,计算求取厚松散层非充分采动条件下由地下开采引起的地面任意点沉降值,完成地面沉降预计。/n
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