[发明专利]一种基于受测试件周期振荡的等效滑移长度测量方法有效

专利信息
申请号: 201910836043.6 申请日: 2019-09-04
公开(公告)号: CN110455687B 公开(公告)日: 2020-07-17
发明(设计)人: 段慧玲;李泽祥;刘晓超;吕鹏宇 申请(专利权)人: 北京大学
主分类号: G01N13/00 分类号: G01N13/00;G01B21/02
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 李坤
地址: 100871*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 本公开提供了一种基于受测试件周期振荡的等效滑移长度测量方法,包括:步骤S101:制备具有超疏水表面的受测试件,并将受测试件安装在等效滑移长度测量系统;步骤S102:设定等效滑移长度测量系统的参数,开启等效滑移长度测量系统;步骤S103:受测试件在自身平面内进行周期运动并带动流体产生Stokes层,测量Stokes层内的观测点的实际最大速度;步骤S104:由所述实际最大速度计算等效滑移长度。
搜索关键词: 一种 基于 测试 周期 振荡 等效 滑移 长度 测量方法
【主权项】:
1.一种基于受测试件周期振荡的等效滑移长度测量方法,其特征在于,包括:/n步骤S101:制备具有超疏水表面的受测试件,并将受测试件安装在等效滑移长度测量系统;/n步骤S102:设定等效滑移长度测量系统的参数,开启等效滑移长度测量系统;/n步骤S103:受测试件在自身平面内进行周期运动并带动流体产生Stokes层,测量Stokes层内的观测点的实际最大速度;/n步骤S104:由所述实际最大速度计算等效滑移长度。/n
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