[发明专利]多层复合基板结构及其制备方法在审

专利信息
申请号: 201910836789.7 申请日: 2019-09-05
公开(公告)号: CN110600436A 公开(公告)日: 2019-12-20
发明(设计)人: 方天琦 申请(专利权)人: 方天琦
主分类号: H01L23/14 分类号: H01L23/14;H01L21/683
代理公司: 11718 北京清大紫荆知识产权代理有限公司 代理人: 张卓
地址: 100044 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种多层复合半导体基板结构及其制作方法,该结构包括一高质量单晶外延层,一高质量单晶外延种子层、一键合界面层和一低质量单晶支撑基板层;外延种子层通过键合转移或薄化等方法至单晶支撑基板层之上,可以用于外延层的外延。该多层复合半导体基板的主体为低质量单晶支撑基板层,在通过高质量外延薄层实现功能的同时,可显著降低成本。
搜索关键词: 支撑基板 单晶 高质量单晶 多层复合 外延层 种子层 半导体基板结构 半导体基板 键合界面层 薄层 薄化 键合 制作
【主权项】:
1.一种多层复合半导体基板结构,该复合基板结构包括一高质量的单晶外延层,一高质量的单晶外延种子层、一键合界面层和一低质量单晶支撑基板,其中:/n该单晶外延种子层通过一键合界面层与一单晶支撑基板键合,该键合界面层形成于外延种子层与单晶支撑基板的键合工艺,位于外延种子层与单晶支撑基板之间,外延层生长于外延种子层之上,且可包含形核层和缓冲层。/n
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