[发明专利]一种针对多种错误类型的片上存储器BIST验证方法有效
| 申请号： | 201910841142.3 | 申请日： | 2019-09-06 |
| 公开（公告）号： | CN110795897B | 公开（公告）日： | 2021-06-22 |
| 发明（设计）人： | 谢军;刘佳季;李峰;朱巍;宁永波;菅陆田;吴珊 | 申请（专利权）人： | 无锡江南计算技术研究所 |
| 主分类号： | G06F30/30 | 分类号： | G06F30/30;G11C29/12 |
| 代理公司： | 浙江千克知识产权代理有限公司 33246 | 代理人： | 邵捷 |
| 地址： | 214100 江苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明涉及芯片验证技术领域，具体涉及一种针对多种错误类型的片上存储器BIST验证方法。本发明通过以下技术方案得以实现的：一种针对多种错误类型的片上存储器BIST验证方法，S01、验证环境搭建步骤、S02、激励规则制定步骤、S03、造错模块添加步骤、S04、结果验证步骤。本发明的目的是提供一种针对多种错误类型的片上存储器BIST验证方法，在测试过程中，充分遍历实现BIST测试中所有可出现的错误类型，保证测试修复逻辑的正确性并提升操作效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 针对 多种 错误 类型 存储器 bist 验证 方法 | ||
【主权项】：
1.一种针对多种错误类型的片上存储器BIST验证方法，其特征在于，包含如下步骤：S01、验证环境搭建步骤： 搭建针对存储器的BIST测试环境； S02、激励规则制定步骤： 制定激励规则，制定不同的出错方式以及对应的测试结果，指定三个错误量，三个所述错误量均为单错，指定三个所述错误量在不同位置，对应的测试结果值； S03、造错模块添加步骤：添加造错模块，对指定自测试地址和轮次时的正确数据取反造成相应的错误数据； S04、结果验证步骤： 将所述造错模块形成的所述错误数据作为激励数据，输入进BIST测试环境取得测试结果，将所述测试结果与所述激励规则中对应的测试结果值进行比对验证。/n
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