[发明专利]一种膜厚控制系统有效
申请号: | 201910845719.8 | 申请日: | 2017-05-28 |
公开(公告)号: | CN110667148B | 公开(公告)日: | 2021-08-27 |
发明(设计)人: | 邹细勇;朱力;胡晓静 | 申请(专利权)人: | 中国计量大学 |
主分类号: | B29D7/01 | 分类号: | B29D7/01;G05D5/03 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 310018 浙江省*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本发明公开了一种膜厚控制系统,其包括挤出单元、冷却成型单元、拉伸单元、测厚单元、监测控制单元和收卷单元,其中冷却成型单元内含刻印模块,监测控制单元内有数显设备、膜厚图像拾取模块、图像处理模块、控制模块、模头调节器和变频器。测厚单元检测薄膜厚度并将薄膜剖面图像传送给数显设备,并经膜厚图像拾取模块转送到图像处理模块,控制模块接收图像处理模块输出的标记有模头螺栓位置的薄膜厚度值集合后分别通过变频器和模头调节器来调节薄膜纵向和横向的厚度。本发明实时采集薄膜剖面图像信号,分析处理得到厚度参数,通过模头螺栓进行剖面的厚度调节,达到薄膜横向厚度均匀的目的,同时通过挤出速度的调节使薄膜纵向厚度保持一致。 | ||
搜索关键词: | 一种 控制系统 | ||
【主权项】:
1.一种膜厚控制系统,其包括挤出单元、冷却成型单元、拉伸单元、测厚单元、监测控制单元和收卷单元,所述挤出单元包括挤出机和模头,所述拉伸单元包括纵拉模块和横拉模块,所述测厚单元包括第一测厚仪及第二测厚仪,薄膜原料熔体从挤出机挤出后经冷却成型单元固化为铸片,铸片经拉伸单元拉伸为宽卷薄膜后由收卷单元收存为母卷,所述第一测厚仪及第二测厚仪分别位于拉伸单元两端对所述铸片和宽卷薄膜进行厚度监测,其特征在于:/n所述冷却成型单元包括一个刻印模块,所述监测控制单元包括数显设备、膜厚图像拾取模块、图像处理模块、控制模块、模头调节器和变频器,所述第一测厚仪及第二测厚仪均将厚度信息生成为薄膜剖面图像后将该图像传送给数显设备并经膜厚图像拾取模块转送到图像处理模块,所述控制模块接收图像处理模块输出的膜厚数据后分别控制挤出机转速和模头的开度。/n
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