[发明专利]一种调试方法及调试单元有效
| 申请号： | 201910848984.1 | 申请日： | 2019-09-09 |
| 公开（公告）号： | CN110597678B | 公开（公告）日： | 2022-05-31 |
| 发明（设计）人： | 李嘉昕 | 申请（专利权）人： | 腾讯科技（深圳）有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22;G06F11/263;G06N3/04;G06N3/08;G06V10/94;G06V10/764;G06V10/82;G06K9/62 |
| 代理公司： | 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 | 代理人： | 李娟;杨晓萍 |
| 地址： | 518044 广东省深圳*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请提供一种调试方法及调试单元，涉及电子领域，调试方法应用于芯片中，调试单元与目标单元通过片上总线相连，方法包括：调试单元获取各个子目标单元的调试输出数据，调试输出数据是各个子目标单元针对调试输入信号进行处理得到的处理结果；调试单元将各个子目标单元的调试输出数据转换为各个像素数据，并根据各个像素数据确定调试图像数据；调试单元根据调试图像数据确定运行异常的各子目标单元以及运行异常的各子目标单元的异常原因，进一步的，调试单元还可以根据机器学习的方法确定运行异常的各子目标单元以及运行异常的各子目标单元的异常原因。本申请实施例的调试方法不受屏幕输出分辨率的限制，通用性好，灵活度高。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 调试 方法 单元 | ||
【主权项】：
1.一种调试方法，其特征在于，所述调试方法应用于芯片中，所述芯片至少包括目标单元以及调试单元，所述调试单元与所述目标单元通过片上总线相连，所述目标单元由多个子目标单元构成，各个子目标单元是根据所述目标单元的功能确定的，所述方法包括：/n所述调试单元获取各个子目标单元的调试输出数据，所述调试输出数据是各个子目标单元针对调试输入信号进行处理得到的处理结果；/n所述调试单元将各个子目标单元的调试输出数据转换为各个像素数据，并根据各个像素数据确定调试图像数据；/n所述调试单元根据所述调试图像数据确定运行异常的各子目标单元以及运行异常的各子目标单元的异常原因。/n
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