[发明专利]一种利用AOTF单色光测量宽波段波片性能的装置及方法在审
| 申请号： | 201910850239.0 | 申请日： | 2019-09-10 |
| 公开（公告）号： | CN110631805A | 公开（公告）日： | 2019-12-31 |
| 发明（设计）人： | 何志平;吴金才;窦永昊;王天洪;舒嵘 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海技术物理研究所 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 31311 上海沪慧律师事务所 | 代理人： | 郭英 |
| 地址： | 200083 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种利用AOTF单色光测量宽波段波片性能的装置及方法，该装置由波长可调谐单色光光源模块、起偏器、待检波片、检偏器、能量探测组件组成，待检波片位于起偏器与检偏器中间，旋转待检波片导致出射光能量变化，通过测试出光能量的变化来准确标定波片相位延迟量。本发明的方法基于偏振光在器件中传播的穆勒矩阵和斯托克斯矢量表示法，将待检波片放置于两片透光轴方向相同的检偏器与检偏器中间，通过旋转波片测试出光能量的最大值与最小值，根据斯托克斯矢量法推导得出待测波片相位延迟角与出射能量最大值、最小值的对应关系，从而通过测量出射能量来准确快速标定待测波片的相位延迟量。 | ||
| 搜索关键词： | 检偏器 波片 检波 相位延迟量 出光能量 起偏器 标定 出射 偏振光 测量 矩阵 波长可调谐 出射光能量 单色光光源 矢量表示法 相位延迟角 测试 能量探测 旋转波片 单色光 宽波段 矢量法 透光轴 推导 传播 | ||
【主权项】：
1.一种利用AOTF单色光测量宽波段波片性能的装置，包括波长可调谐单色光光源模块(1)、带旋转结构的待测波片(2)、检偏器(3)和能量探测组件(4)，其特征在于：/n所述的波长可调谐单色光光源模块(1)由光纤输出的宽光谱光源(1-1)、准直透镜(1-2)、声光可调滤光器(1-3)、遮光板(1-4)组成。测试时光纤输出的宽光谱光源(1-1)出射的光经过准直透镜(1-2)后成为平行光，入射到射频可调的声光可调滤光器(1-3)，出射光会产生对应波长的衍射光，利用遮光板(1-4)遮挡负1级衍射光及零级光，所产生的正1级衍射光经过带旋转结构的待测波片(2)、检偏器(3)后，被能量探测组件(4)检测，通过旋转带旋转结构的待测波片(2)来改变出射光的偏振状态，从而导致能量探测组件(4)探测到光的能量变化，通过能量变化情况来准确快速标定带旋转结构的待测波片(2)的相位延迟量；通过波长可调谐单色光光源模块(1)来改变出射光的波长，从而获取宽波段波片的相位延迟量。/n
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