[发明专利]一种不良数据辨识方法在审

专利信息
申请号: 201910854363.4 申请日: 2019-09-10
公开(公告)号: CN110544047A 公开(公告)日: 2019-12-06
发明(设计)人: 娄建楼;贾俊奇;曲朝阳;李燕;孙博;王蕾 申请(专利权)人: 东北电力大学
主分类号: G06Q10/06 分类号: G06Q10/06;G06K9/62;G06Q50/06
代理公司: 61248 西安合创非凡知识产权代理事务所(普通合伙) 代理人: 杨蕾<国际申请>=<国际公布>=<进入国
地址: 132000 *** 国省代码: 吉林;22
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摘要: 发明公开了一种不良数据辨识方法,包括以下步骤:S1,使用凝聚层次聚类算法和真实Index的模型评估指标,确定PAM算法的初始聚类个数;S2,使用PAM算法对正常数据进行聚类,并计算每类的均方差,得出正常数据的类均方差范围;S3,运用间隙统计算法对待测数据进行聚类并得出结果;S4,比较待测数据所得聚类个数与正常数据通过HC‑Center聚类算法所得聚类个数是否一致,若一致即不存在不良数据,否则需计算每个类的均方差,判断其是否在正常数据的类均方差范围之内,若不在,则类中数据视为不良数据。本发明解决了PAM算法需要人为设定初始聚类个数的缺陷,提高了聚类的准确度;能够高效、准确地对数据进行聚类运算。
搜索关键词: 聚类 正常数据 均方差 不良数据 算法 层次聚类算法 聚类算法 聚类运算 模型评估 统计算法 准确度 辨识 凝聚
【主权项】:
1.一种不良数据辨识方法,其特征在于,包括以下步骤:/nS1,使用凝聚层次聚类算法和真实Index的模型评估指标,确定PAM算法的初始聚类个数;/nS2,使用PAM算法对正常数据进行聚类,并计算每类的均方差,得出正常数据的类均方差范围;/nS3,运用间隙统计算法对待测数据进行聚类并得出结果;/nS4,比较待测数据所得聚类个数与正常数据通过HC-Center聚类算法所得聚类个数是否一致,若一致即不存在不良数据,否则需计算每个类的均方差,判断其是否在正常数据的类均方差范围之内,若不在,则类中数据视为不良数据。/n
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