[发明专利]一种RFID芯片上存储器的自校验方法在审
| 申请号： | 201910858244.6 | 申请日： | 2019-09-12 |
| 公开（公告）号： | CN110457970A | 公开（公告）日： | 2019-11-15 |
| 发明（设计）人： | 孙晓霞;张建伟 | 申请（专利权）人： | 上海明矽微电子有限公司;张建伟 |
| 主分类号： | G06K7/10 | 分类号： | G06K7/10;G11C29/42 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 201203上海市浦东*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提出一种RFID芯片上，TID存储器中序列号的自校验方法‑‑奇校验。使用异或运算，计算出序列号中“1”的个数，并产生相应的校验位置于存储区中。用户读取序列号后，用同样的异或运算，计算出检验码并与存储器中的预置校验位比较，一致则代表序列号正确，否则代表序列号有误。 | ||
| 搜索关键词： | 存储器 异或运算 校验 用户读取 检验码 校验位 自校验 预置 | ||
【主权项】：
1.一种RFID芯片上TID存储器的自校验方法，其特征在于，使用奇校验方法为TID存储区中的序列号做校验，当序列号含有奇数个“1”时，校验码为“0”，当序列号含有偶数个“1”时，校验码为“1”。/n
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