[发明专利]重复纹理特征描述方法和装置、双目立体匹配方法和装置有效
| 申请号： | 201910858862.0 | 申请日： | 2019-09-11 |
| 公开（公告）号： | CN110599531B | 公开（公告）日： | 2022-04-29 |
| 发明（设计）人： | 唐金伟;张哲斌 | 申请（专利权）人： | 北京迈格威科技有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/44 | 分类号： | G06T7/44;G06T7/33 |
| 代理公司： | 北京华进京联知识产权代理有限公司 11606 | 代理人： | 乔改利 |
| 地址： | 100190 北京市海淀区科*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请涉及一种重复纹理特征描述方法和装置、双目立体匹配方法和装置。包括：获取目标图像中的重复纹理区域；从重复纹理区域中获取目标重复纹理点；根据目标重复纹理点，从重复纹理区域外部的非重复纹理区域中确定出与目标重复纹理点邻近的N个非重复纹理点；对N个非重复纹理点进行综合特征描述，并将综合特征描述结果确定为目标重复纹理点的特征描述子。从而使目标重复纹理点的特征描述子具有了独特性，进一步能够使根据该具有独特性的特征描述子进行双目立体匹配的准确率更高。 | ||
| 搜索关键词： | 重复 纹理 特征 描述 方法 装置 双目 立体 匹配 | ||
【主权项】：
1.一种重复纹理特征描述方法，其特征在于，所述方法包括：/n获取目标图像中的重复纹理区域；/n从所述重复纹理区域中获取目标重复纹理点；/n根据所述目标重复纹理点，从所述重复纹理区域外部的非重复纹理区域中确定出与所述目标重复纹理点邻近的N个非重复纹理点；/n对所述N个非重复纹理点进行综合特征描述，并将综合特征描述结果确定为所述目标重复纹理点的特征描述子。/n
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