[发明专利]一种InGaAs短波红外成像仪的盲元检测方法及图像处理方法

摘要

本发明属于图像处理技术领域，涉及一种InGaAs短波红外成像仪的盲元检测方法。一种InGaAs短波红外成像仪的盲元检测方法，将包括：将短波红外成像仪对准参考辐射源；每个视频周期内，分别在T1和T2时刻对短波红外成像仪的两个通道采样，获得两个时刻、两通道的响应输出值为Vs1，Vs2；计算每个像元的响应输出值V(i，j)，其中V(i，j)＝Vs2(i，j)‑Vs1(i，j)；若Vs2(i，j)≤Vlow或若Vs1(i，j)≥Vhigh，则将该像元加入盲元表；对于其他的像元，计算并判断当时，则判定为盲元，加入盲元表。本发明的方法，无需分别采集不同参考辐射源下的像元数据，降低检测的复杂程度；对辐射源要求不高，不需要在过分苛刻的均匀光照背景下进行校正。

主权项

1.一种InGaAs短波红外成像仪的盲元检测方法，其特征在于，包括：/n将短波红外成像仪对准参考辐射源；/n每个视频周期内，分别在T