[发明专利]一种基于迈克尔逊结构的高精度测角装置及测角方法有效

专利信息
申请号: 201910864475.8 申请日: 2019-09-12
公开(公告)号: CN110631510B 公开(公告)日: 2020-07-31
发明(设计)人: 赵怀学;周艳;田留德;刘锴;潘亮;曹昆 申请(专利权)人: 中国科学院西安光学精密机械研究所
主分类号: G01B11/26 分类号: G01B11/26
代理公司: 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 代理人: 郑丽红
地址: 710119 陕西省西*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明涉及一种基于迈克尔逊结构的高精度测角装置及测角方法,解决现有测角装置测量精度较低的问题。该测角装置包括激光光源、会聚镜、缩束镜、分光棱镜、第一准直镜、第一平面反射镜、第二准直镜、第二平面反射镜、探测器和计算机;激光光源经会聚镜整形后,通过星点板入射至缩束镜,再经分光棱镜分为两路,一路被分光棱镜反射会聚于第一准直镜焦面;另一路被分光棱镜透射至第一平面反射镜,透射光经第一平面反射镜反射后,再次经分光棱镜反射至第二准直镜,反射光通过第二准直镜后入射至第二平面反射镜,经第二平面反射镜反射后,成像于第一准直镜焦面,第一平面波和第二平面波在探测器靶面干涉,计算机及与探测器连接。
搜索关键词: 一种 基于 迈克 结构 高精度 装置 方法
【主权项】:
1.一种基于迈克尔逊结构的高精度测角装置,其特征在于:包括激光光源(1)、会聚镜(2)、缩束镜(3)、分光棱镜(4)、第一准直镜(5)、第一平面反射镜(7)、第二准直镜(8)、第二平面反射镜(9)、探测器(6)和计算机(10);/n所述激光光源(1)经会聚镜(2)整形后,通过星点板入射至缩束镜(3),再经分光棱镜(4)分为两路,一路被分光棱镜(4)反射会聚于第一准直镜(5)焦面,通过第一准直镜(5)后转为第一平面波;另一路被分光棱镜(4)透射至第一平面反射镜(7),透射光经第一平面反射镜(7)反射后,再次经分光棱镜(4)反射至第二准直镜(8),反射光通过第二准直镜(8)后入射至第二平面反射镜(9),经第二平面反射镜(9)反射后,成像于第一准直镜(5)焦面,通过第一准直镜(5)后转为第二平面波,第一平面波和第二平面波在探测器(6)靶面干涉,计算机(10)及与探测器(6)连接,对干涉条纹进行处理得到第二平面反射镜(9)与第二准直镜(8)光轴的夹角。/n
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