[发明专利]一种电子产品性能退化加速因子的计算方法有效
| 申请号： | 201910864884.8 | 申请日： | 2019-09-09 |
| 公开（公告）号： | CN110580329B | 公开（公告）日： | 2023-05-16 |
| 发明（设计）人： | 李鸿志;王凤姣;王文晴;杨明远;吴雪微;徐笛 | 申请（专利权）人： | 上海无线电设备研究所 |
| 主分类号： | G06F17/18 | 分类号： | G06F17/18 |
| 代理公司： | 上海元好知识产权代理有限公司 31323 | 代理人： | 张妍;周乃鑫 |
| 地址： | 200090 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种电子产品性能退化加速因子的计算方法，包含以下步骤：细化温变应力试验过程中电子产品的温度变化过程；计算温度变化过程中电子产品的性能加速退化速率；综合得到温变应力条件下的电子产品性能退化加速因子。本发明应用在电子产品可靠性加速试验中，缩短试验时间和成本，快速的评估电子产品的可靠性水平。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 电子产品 性能 退化 加速 因子 计算方法 | ||
【主权项】：
1.一种电子产品性能退化加速因子的计算方法，其特征在于，包括以下步骤：/nS1、细化温变应力试验过程中电子产品的温度变化过程；/nS2、计算温度变化过程中电子产品的性能加速退化速率；/nS3、综合得到温变应力条件下的电子产品性能退化加速因子。/n
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