[发明专利]检查装置以及机器学习方法在审
申请号: | 201910865243.4 | 申请日: | 2019-09-12 |
公开(公告)号: | CN110895717A | 公开(公告)日: | 2020-03-20 |
发明(设计)人: | 渡边桂祐;芝崎泰弘 | 申请(专利权)人: | 发那科株式会社 |
主分类号: | G06N3/08 | 分类号: | G06N3/08;G06F17/18;G06Q10/06;G06Q50/04 |
代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人: | 范胜杰;文志 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明提供检查装置以及机器学习方法。检查装置具备:机器学习装置,其根据从检查对象取得的状态数据和表示该检查对象的检查结果的标签数据来进行机器学习,由此生成学习模型;学习模型评价指标计算部,其计算与机器学习装置生成的学习模型相关的在学习模型的评价中使用的评价指标即学习模型评价指标;检查指标取得部,其取得检查中使用的检查指标;以及指标值判定部,其根据学习模型评价指标和检查指标,判定机器学习装置生成的学习模型是否满足检查指标,并输出该判定的结果。 | ||
搜索关键词: | 检查 装置 以及 机器 学习方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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