[发明专利]一种双响应GaN紫外探测器及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201910869396.6 申请日: 2019-09-16
公开(公告)号: CN110676344B 公开(公告)日: 2021-02-19
发明(设计)人: 仇志军;叶怀宇;张国旗 申请(专利权)人: 深圳第三代半导体研究院
主分类号: H01L31/18 分类号: H01L31/18;H01L31/105
代理公司: 北京中知法苑知识产权代理有限公司 11226 代理人: 李明
地址: 518055 广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种双响应GaN紫外探测器及其制备方法,包括:1)衬底上依次生长GaN缓冲层和n型掺杂GaN层;2)所述n型掺杂GaN层上生长m层不同In组分本征掺杂InxGa1‑xN结构,其中m≥3;3)所述m层不同In组分本征掺杂InxGa1‑xN结构上生长p型掺杂GaN层;4)刻蚀所述p型掺杂GaN层和所述m层不同In组分本征掺杂InxGa1‑xN层;5)沉积钝化层;6)刻蚀所述钝化层并沉积金属电极。本发明的GaN探测器是PIN结构探测器,能够实现快速、准确、高灵敏度的紫外光探测;其次,本发明的探测器能够在输出光电信号的同时发出白光指示信号,实现了人眼可见的探测提示以及光信号测量。
搜索关键词: 一种 双响 gan 紫外 探测器 及其 制备 方法
【主权项】:
1.一种双响应GaN紫外探测器及其制备方法,其特征在于:包括/n1)衬底上依次生长GaN缓冲层和n型掺杂GaN层;/n2)所述n型掺杂GaN层上生长m层不同In组分本征掺杂In
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