[发明专利]一种基于深度学习和结构光相结合的深度测量方法有效

专利信息
申请号: 201910870077.7 申请日: 2019-09-16
公开(公告)号: CN110686652B 公开(公告)日: 2021-07-06
发明(设计)人: 常婉;向森;邓慧萍;吴谨 申请(专利权)人: 武汉科技大学
主分类号: G01C11/30 分类号: G01C11/30;G06N3/04
代理公司: 武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 42222 代理人: 胡琦旖
地址: 430081 湖北*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明属于三维重建技术领域,公开了一种基于深度学习和结构光相结合的深度测量方法,包括:通过结构光视觉获得包裹形变相位;通过深度学习获得初始深度值;根据初始深度值获得第一相位补偿系数;根据包裹形变相位和第一相位补偿系数获得真实形变相位,对真实形变相位进行相位展开,获得测量深度值。本发明解决了现有技术中深度测量的精度较低的问题,能够有效提高测量精度。
搜索关键词: 一种 基于 深度 学习 结构 相结合 测量方法
【主权项】:
1.一种基于深度学习和结构光相结合的深度测量方法,其特征在于,包括:/n通过结构光视觉获得包裹形变相位;/n通过深度学习获得初始深度值;/n根据所述初始深度值获得第一相位补偿系数;/n根据所述包裹形变相位和所述第一相位补偿系数获得真实形变相位,对所述真实形变相位进行相位展开,获得测量深度值。/n
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